[发明专利]相变存储器最优脉冲操作条件的筛选方法

权利要求书

1.一种相变存储器最优脉冲操作条件的筛选方法，其特征在于，所述筛选方法包括：

基于待测相变存储器，设定待优化脉冲及各所述待优化脉冲对应的预设操作条件，并基于各所述待优化脉冲，设定影响因子；其中，各所述待优化脉冲对应的所述预设操作条件的个数相同；

基于各所述待优化脉冲对应的所述预设操作条件，生成N组测试数据，以分别对所述待测相变存储器中的若干存储单元进行RESET操作和SET操作，并获取各所述测试数据对应的RESET分布电阻的电阻值及SET分布电阻的电阻值；其中，N为大于等于1的正整数；

分别对RESET分布电阻和影响因子、及SET分布电阻和影响因子进行回归分析，获取RESET响应模型及SET响应模型；以及

基于所述RESET响应模型及所述SET响应模型，对各所述待优化脉冲的操作条件进行预测，获取使所述待测相变存储器实现RESET操作及SET操作的最优脉冲操作条件；

其中，所述待优化脉冲包括RESET电流脉冲高度、RESET电流脉冲宽度、SET电流脉冲高度及SET电流脉冲宽度；所述影响因子包括：RESET电流脉冲高度、RESET电流脉冲宽度、SET电流脉冲高度、SET电流脉冲宽度、RESET电流脉冲高度*RESET电流脉冲高度、RESET电流脉冲宽度*RESET电流脉冲宽度、SET电流脉冲高度*SET电流脉冲高度、SET电流脉冲宽度*SET电流脉冲宽度、RESET电流脉冲高度*RESET电流脉冲宽度、RESET电流脉冲高度*SET电流脉冲高度、RESET电流脉冲高度*SET电流脉冲宽度、RESET电流脉冲宽度*SET电流脉冲高度、RESET电流脉冲宽度*SET电流脉冲宽度及SET电流脉冲高度*SET电流脉冲宽度。

2.根据权利要求1所述的相变存储器最优脉冲操作条件的筛选方法，其特征在于，所述筛选方法基于JMP统计软件实现。

3.根据权利要求1所述的相变存储器最优脉冲操作条件的筛选方法，其特征在于，所述RESET分布电阻为均值电阻或中值电阻，所述SET分布电阻为均值电阻或中值电阻。

4.根据权利要求3所述的相变存储器最优脉冲操作条件的筛选方法，其特征在于，所述RESET分布电阻和所述SET分布电阻均为中值电阻。

5.根据权利要求1所述的相变存储器最优脉冲操作条件的筛选方法，其特征在于，对所述待测相变存储器进行RESET操作和SET操作之前，还包括：通过调节测试数据的组数N，对各所述待优化脉冲的预测方差进行优化的步骤；其中，组数N与各所述待优化脉冲的预测方差负相关。

6.根据权利要求1所述的相变存储器最优脉冲操作条件的筛选方法，其特征在于，获取RESET响应模型及SET响应模型的方法包括：分别通过最小二乘法对RESET分布电阻和影响因子、及SET分布电阻和影响因子进行回归分析，以获取RESET响应模型及SET响应模型。

7.根据权利要求6所述的相变存储器最优脉冲操作条件的筛选方法，其特征在于，获取RESET响应模型及SET响应模型后，还包括：通过假设检测法分别对RESET响应模型及SET响应模型中的影响因子进行显著性水平分析，以对RESET响应模型及SET响应模型进行优化。