[发明专利]基板检测装置和方法

说明书

本发明公开了一种基板检测装置和方法，属于显示技术领域。基板检测装置包括：基台和双折射结构；基台包括光源和承载台，承载台用于放置待检测基板，光源用于从待检测基板靠近承载台的一侧照射待检测基板；双折射结构位于待检测基板远离承载台的一侧，且光源与承载台位于双折射结构的同一侧。本发明通过双折射结构层增大光线的相位差，使一些相位差较小的光线也能发生干涉，增加了双折射结构层出光侧不同区域的亮度差异，使得基板上的不均匀更容易显现出。解决了相关技术中一些待检测基板上的Mura现象较难观察到，使得发生漏检的可能性较大的问题。达到了避免漏检的效果。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种基板检测装置和方法。

背景技术

各种显示器如液晶显示器(英文：Liquid Crystal Display；简称：LCD)和有机发光二极管(英文：Organic Light-Emitting Diode；简称：OLED)显示器均包括用于进行显示控制的各种基板(如阵列基板)。在将基板与显示器中的其他结构对盒前，会对基板进行检测。

相关技术中的一种基板检测装置包括照明组件和基台，该基台用于放置待检测基板，照明组件用于从待检测基板的一侧照射待检测基板，检测人员可以从待检测基板的另一侧观察待检测基板，若待检测基板上存在一些不均匀的区域，例如具有微小的段差和坡度角的区域，则待检测基板可能由于这些不均匀的区域发生干涉等现象，使得透过待检测基板不同区域的光线的亮度不均匀，检测人员可以将出现亮度不均匀现象(该现象可以称为Mura现象)的待检测基板确定为不合格的基板。

在实现本发明的过程中，发明人发现相关技术至少存在以下问题：一些待检测基板上的Mura现象较难观察到，使得发生漏检的可能性较大。

发明内容

本发明实施例提供了一种基板检测装置和方法，能够解决相关技术中一些待检测基板上的Mura现象较难观察到，使得发生漏检的可能性较大的问题。所述技术方案如下：

根据本发明的第一方面，提供了一种基板检测装置，所述基板检测装置包括：

基台和双折射结构；

所述基台包括光源和承载台，所述承载台用于放置待检测基板，所述光源用于从所述待检测基板靠近所述承载台的一侧照射所述待检测基板；

所述双折射结构位于所述待检测基板远离所述承载台的一侧，且所述光源与所述承载台位于所述双折射结构的同一侧。

可选的，所述双折射结构包括液晶层和设置在所述液晶层外部的电场组件，

所述电场组件用于控制所述液晶层的双折射率。

可选的，所述双折射结构还包括温度调节组件，

所述温度调节组件用于调节所述液晶层的温度。

可选的，所述温度调节组件包括透明的石墨烯加热膜，所述石墨烯加热膜贴覆在所述液晶层上。

可选的，所述双折射结构还包括设置在所述液晶层远离所述承载台一侧的彩膜层。

可选的，所述双折射结构还包括设置在所述液晶层远离所述承载台一侧的第一偏光片，

所述承载台上设置有第二偏光片，所述光源用于透过所述第二偏光片照射所述待检测基板，所述第一偏光片和所述第二偏光片用于配合所述液晶层以调整所述双折射结构的透过率。

可选的，所述光源为面光源，

所述面光源设置在所述承载台上；

所述第二偏光片设置在所述面光源的出光侧。

可选的，所述基板检测装置还包括图像采集组件，

所述图像采集组件设置在所述双折射结构远离所述基台的一侧。