[发明专利]图像的校准方法、装置、存储介质、程序产品和电子设备有效

专利信息
申请号: 201810136229.6 申请日: 2018-02-09
公开(公告)号: CN108305281B 公开(公告)日: 2020-08-11
发明(设计)人: 孙文秀;肖瑞超;庞家昊;任思捷 申请(专利权)人: 深圳市商汤科技有限公司
主分类号: G06T7/33 分类号: G06T7/33;G06T7/38
代理公司: 北京康达联禾知识产权代理事务所(普通合伙) 11461 代理人: 纪烈超;刘洁
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 图像 校准 方法 装置 存储 介质 程序 产品 电子设备
【权利要求书】:

1.一种图像的校准方法,其特征在于,所述方法包括:

获取第一图像和第二图像中匹配的多对关键点,所述第一图像与所述第二图像为立体图像对;

根据所述多对关键点中关键点的位置数据,确定用于所述第二图像中像素点位置变换的第一变换数据;

根据所述第一变换数据对所述第二图像中像素点的位置进行变换,使得所述第二图像中的像素点分别与所述第一图像中对应的像素点对齐,

其中,所述根据所述第一变换数据对所述第二图像中像素点的位置进行变换之后,所述方法还包括:

根据所述第二图像的尺寸数据以及变换后的第二图像中每条边的中间像素点的位置数据,确定用于拉伸所述变换后的第二图像的拉伸数据,所述拉伸数据包括切变矩阵;

根据所述拉伸数据对所述变换后的第二图像进行拉伸,获得拉伸后的第二图像。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取第一图像和第二图像中匹配的多对关键点,包括:

对所述第一图像和所述第二图像分别进行特征提取,获得所述第一图像的多个关键点和所述第二图像的多个关键点;

根据所述第一图像和所述第二图像中的关键点的特征向量对所述第一图像的多个关键点与所述第二图像的多个关键点进行匹配,获得所述第一图像和所述第二图像中匹配的多对关键点。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述根据所述多对关键点中关键点的位置数据,确定用于所述第二图像中像素点位置变换的第一变换数据,包括:

迭代地执行以下步骤t次:

在所述多对关键点中随机选择n对关键点,并根据所述n对关键点中关键点的位置数据,确定用于所述第二图像中匹配关键点位置变换的第二变换数据;

根据所述第二变换数据对所述第二图像中匹配关键点的位置进行变换,获得所述第二图像中的匹配关键点变换后的位置数据;

确定所述第二图像中每个匹配关键点变换后的位置数据分别与所述第一图像中对应的匹配关键点的位置数据的差值的绝对值;

确定所述第二图像中所述差值的绝对值小于预设阈值的匹配关键点的数量与所述第二图像中匹配关键点的数量的比值;

根据每次迭代获得的比值确定最大比值,并将获得最大比值的迭代中的第二变换数据确定为所述第一变换数据,其中,t和n均为常数。

4.根据权利要求1~2中任意一项权利要求所述的方法,其特征在于,所述根据所述第二图像的尺寸数据以及变换后的第二图像中每条边的中间像素点的位置数据,确定用于拉伸所述变换后的第二图像的拉伸数据,包括:

根据所述变换后的第二图像中每条边的中间像素点的位置数据,确定所述变换后的第二图像中连接上下两条边的中间像素点的第一向量和连接左右两条边的中间像素点的第二向量;

根据所述第二图像的尺寸数据、所述第一向量以及所述第二向量确定用于拉伸所述变换后的第二图像的拉伸数据。

5.根据权利要求4权利要求所述的方法,其特征在于,所述根据所述拉伸数据对所述变换后的第二图像进行拉伸之后,所述方法还包括:

根据所述拉伸后的第二图像中的匹配关键点的位置数据和所述第一图像中匹配关键点的位置数据,确定用于平移所述拉伸后的第二图像的平移数据;

根据所述平移数据对所述拉伸后的第二图像进行平移,获得平移后的第二图像。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据所述拉伸后的第二图像中的匹配关键点的位置数据和所述第一图像中匹配关键点的位置数据,确定用于平移所述拉伸后的第二图像的平移数据,包括:

确定所述拉伸后的第二图像中的匹配关键点的位置数据分别与所述第一图像中对应的匹配关键点的位置数据的差值;

根据所述拉伸后的第二图像中的匹配关键点的位置数据分别与所述第一图像中对应的匹配关键点的位置数据的差值确定最大差值;

根据所述最大差值确定用于平移所述拉伸后的第二图像的平移数据。

7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述平移数据包括位移矩阵。

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