[发明专利]用于高频传感器的程控式一体化检验系统在审

专利信息
申请号: 201810010696.4 申请日: 2018-01-05
公开(公告)号: CN108037428A 公开(公告)日: 2018-05-15
发明(设计)人: 常文治;弓艳朋;毕建刚;杜非;袁帅;孟楠;杨圆;许渊;是艳杰;吴立远;云峰;王峰 申请(专利权)人: 中国电力科学研究院有限公司
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12
代理公司: 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 代理人: 郭一斐
地址: 100192 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 用于 高频 传感器 程控 一体化 检验 系统
【权利要求书】:

1.一种用于高频传感器的程控式一体化检验系统,其特征在于:包括控制计算机以及与所述控制计算机相连的控制指令发出模块,其中所述控制计算机输出指令至所述控制指令发出模块,所述控制指令发出模块输出两路控制信号,一路是电路选择模块,另一路是参数设定模块,且所述电路选择模块通过程控式多路开关对多个信号发生电路进行程控选取及切换,所述多个信号发生电路通过标准化接口连接至测量回路,所述测量回路通过采集系统与所述控制计算机相连。

2.根据权利要求1所述用于高频传感器的程控式一体化检验系统,其特征在于:所述参数设定模块对各个信号发生电路的输出参数进行自定义设置。

3.根据权利要求2所述用于高频传感器的程控式一体化检验系统,其特征在于:所述信号发生电路均具备远程控制信号的响应能力,能够在参数设定指令的定义下自动调节输出信号的参数。

4.根据权利要求1所述用于高频传感器的程控式一体化检验系统,其特征在于:所述多个信号发生电路包括脉冲信号发生电路、高频正弦信号发生电路、工频电流发生电路以及放电比对脉冲发生电路。

5.根据权利要求1所述用于高频传感器的程控式一体化检验系统,其特征在于:所述测量回路用于测试所述高频传感器的性能,包括多种检验项目:传输阻抗、工频饱和特性、检测频带、线性度、带外干扰的抑制特性以及放电量测试范围。

6.根据权利要求5所述用于高频传感器的程控式一体化检验系统,其特征在于:所述测量回路包括信号发生器、与所述信号发生器通过同轴信号电缆串接的电阻,其中所述同轴信号电缆的屏蔽线穿心接入待检测高频传感器,所述高频传感器的输出端连接至示波器。

7.根据权利要求5所述用于高频传感器的程控式一体化检验系统,其特征在于:所述测量回路包括脉冲发生器、工频电流发生器、与所述脉冲发生器通过第一同轴信号电缆串接的电阻,其中所述第一同轴信号电缆的屏蔽线穿心接入待检测高频传感器,所述工频电流发生器通过第二同轴信号电缆的屏蔽线穿心接入所述高频传感器,所述高频传感器的输出端连接至示波器。

8.根据权利要求5所述用于高频传感器的程控式一体化检验系统,其特征在于:所述测量回路包括信号发生器以及校准器,其中所述信号发生器通过第一同轴信号电缆串接第一电容以及第二电容,所述第一同轴信号电缆的屏蔽线穿心接入待检测高频传感器且接地,所述校准器包括电源、与所述电源通过第二同轴信号电缆串接的第一电阻,且所述第二同轴信号电缆的屏蔽线穿心接入所述高频传感器,所述高频传感器的输出端连接至局放仪。

9.根据权利要求5所述用于高频传感器的程控式一体化检验系统,其特征在于:所述测量回路包括信号发生器、与所述信号发生器通过同轴信号电缆串接的第一电容以及第二电容,所述同轴信号电缆的屏蔽线穿心接入待检测高频传感器并接地,所述高频传感器的输出端连接至局放仪。

10.根据权利要求5所述用于高频传感器的程控式一体化检验方法,其特征在于:所述信号发生电路通过所述标准化接口与各检验项目对应的测量回路连接。

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