[发明专利]铒基耐等离子体陶瓷涂层的非直视性沉积有效
申请号: | 201780038885.6 | 申请日: | 2017-01-23 |
公开(公告)号: | CN109417021B | 公开(公告)日: | 2023-07-18 |
发明(设计)人: | J·Y·孙 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/205;H01L21/56 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 汪骏飞;侯颖媖 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 铒基耐 等离子体 陶瓷 涂层 直视 沉积 | ||
1.一种涂覆方法,包含:
使用化学气相沉积工艺或原子层沉积工艺在腔室部件的表面上沉积多层堆叠;以及
退火包含所述多层堆叠的所述腔室部件以将所述多层堆叠转化为耐等离子体陶瓷涂层,其中所述耐等离子体陶瓷涂层选自由以下各项组成的群组:
含铒氟化物YxEryFz,其中x、y和z被选择使得所述含铒氟化物YxEryFz包含高于0摩尔%至低于100摩尔%的YF3和高于0摩尔%至低于100摩尔%的ErF3,以及
含铒氟氧化物YwErxOyFz,其中w、x、y和z被选择使得所述含铒氟氧化物YwErxOyFz包含高于0摩尔%至低于100摩尔%的Y2O3,YF3,Er2O3和ErF3中的三者或更多者。
2.如权利要求1所述的方法,其中所述腔室部件包括导管,其中在其上沉积所述耐等离子体陶瓷涂层的所述腔室部件的所述表面包括具有在10:1与200:1之间的深宽比的所述导管的内表面。
3.如权利要求1所述的方法,其中所述耐等离子体陶瓷涂层具有零孔隙率。
4.如权利要求1所述的方法,进一步包含:
在沉积所述多层堆叠之前,使用酸性溶液清洗所述腔室部件的所述表面,所述酸性溶液包含0.1-20体积%盐酸以改进所述耐等离子体陶瓷涂层对所述腔室部件的黏着。
5.如权利要求1所述的方法,其中在300℃-1000℃的温度执行所述退火。
6.如权利要求1所述的方法,其中所述多层堆叠中的每一层具有0.1nm-100nm的厚度。
7.一种涂覆方法,包含:
使用原子层沉积工艺在腔室部件的表面上沉积多层堆叠,其中所述多层堆叠包含含铒氧化物、含铒氟氧化物、或含铒氟化物中的至少一者,并且其中沉积所述多层堆叠包含:
使用所述原子层沉积工艺沉积第一层,所述第一层由Er2O3和ErF3组成;
使用所述原子层沉积工艺沉积第二层,所述第二层由不同于所述第一层的材料组成,其中所述第二层由Er2O3、Al2O3、ErF3、Y2O3或YF3组成;以及
使用所述原子层沉积工艺沉积一层或多层额外层,所述一层或多层额外层中的每一层由Er2O3、Al2O3、ErF3、Y2O3或YF3中的一者组成;以及
退火包含所述多层堆叠的所述腔室部件,其中所述退火导致所述第一层、所述第二层和所述一层或多层额外层相互扩散并转化为单层的耐等离子体陶瓷涂层,所述单层包含固态相。
8.如权利要求7所述的方法,其中所述耐等离子体陶瓷涂层由Er3Al5O12组成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造