[实用新型]自动测方阻设备

说明书

本实用新型涉及一种自动测方阻设备，通过控制部分控制上料区将装满硅片的花篮输送至下片区，下片区将花篮内的硅片逐一卸下并输送至第一缓存区，第一缓存区将硅片输送至校正区，校正区将硅片校正后输送至测试区进行方阻测试，通过方阻测试完成的硅片被输送至第二缓存区，通过控制部分控制，跟设定标准对比后通过分片区分片后，将超过设定标准上限和超过设定标准下限的硅片分出，仅将方阻测试结果在正常范围内的硅片输送至上片区，并通过上片区将硅片放置在花篮上，最终将装满硅片的花篮通过下料区输送出去；有效避免了人工取片与测片带来的污染、破片与划伤的问题；自动化测试硅片方阻，大大提高了测试效率，可完成批量检测。

技术领域

本实用新型涉及太阳能电池片技术领域，尤其是涉及一种自动测方阻设备。

背景技术

目前太阳能电池片领域中，制作P-N结，即扩散为太阳能电池技术的核心，扩散工艺在炉管内进行高温同磷源进行反应，在硅片表面生成磷单质，并通过高温与硅原子发生替换进入硅晶体内部，形成N型半导体，与之前P型硅片接触区域形成PN结。其中，判定扩散是否优良均是通过测试硅片表面方阻来体现。目前的测试设备均需要人工进行取片、测片和放片。不光效率低，期间不免有摩擦、破损和污染等不良现象；并且目前测试均是抽检硅片，对于未检测到的硅片，存在方阻异常流入下道工序的可能。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是：为了克服现有技术中的测试设备均需要人工进行取片、测片和放片。不光效率低，期间不免有摩擦、破损和污染等不良现象；并且目前测试均是抽检硅片，对于未检测到的硅片，存在方阻异常流入下道工序的问题，提供一种自动测方阻设备。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种自动测方阻设备，包括：包括上料部分、测试部分、下料部分和控制部分，所述上料部分包括上料区、下片区、第一缓存区和校正区，所述测试部分包括测试区，所述下料部分包括第二缓存区、分片区、上片区和下料区，所述上料区、下片区、第一缓存区、校正区、测试区、第二缓存区、分片区、上片区和下料区呈流水线依次设置，所述控制部分分别控制上料区、下片区、第一缓存区、校正区、测试区、第二缓存区、分片区、上片区和下料区。

本实用新型的自动测方阻设备，通过控制部分控制上料区将装满硅片的花篮输送至下片区，下片区将花篮内的硅片逐一卸下并输送至第一缓存区，第一缓存区将硅片输送至校正区，校正区将硅片校正后输送至测试区进行方阻测试，通过方阻测试完成的硅片被输送至第二缓存区，通过控制部分控制，跟设定标准对比后通过分片区分片后，将超出超过设定标准上限和超过设定标准下限的硅片分出，仅将方阻测试结果在正常范围内的硅片输送至上片区，并通过上片区将硅片放置在花篮上，最终将装满硅片的花篮通过下料区输送出去；通过自动化测试硅片方阻，有效避免了人工取片与测片带来的污染、破片与划伤的问题；

自动化测试硅片方阻，大大提高了测试效率，可完成批量检测。

进一步的，所述上料区包括传输装置，两组所述传输装置上下间隔设置，所述传输装置的右侧固定安装有右光电传感器，所述右光电传感器与所述控制部分电连接，位于上方的传输装置用于输送装满硅片的花篮，位于下方的传输装置用于输送空花篮。

进一步的，所述下片区包括下片装置、夹紧装置和输送装置，所述下片装置包括联动装置和固定台，所述联动装置驱动所述固定台实现升降，所述夹紧装置固定安装在所述固定台的上方，所述输送装置包括传输装置和活动运输装置，所述传输装置固定安装在所述固定台上，并位于所述夹紧装置的正下方，所述活动运输装置位于夹紧装置与传输装置之间。

进一步的，所述第一缓存区和第二缓存区均包括联动装置、传输装置和储物篮，所述储物篮罩设所述传输装置，所述联动装置驱动所述储物篮实现升降。

作为优选，所述储物篮包括卡板，两个所述卡板平行且间隔设置，所述传输装置位于两个所述卡板之间，所述卡板上开设有若干缓存槽，两个所述卡板上的缓存槽一一对应设置，所述卡板上固定安装有左、右光电传感器，所述左、右光电传感器分别位于缓存槽的两端。