[实用新型]自动测方阻设备有效
申请号: | 201721373722.7 | 申请日: | 2017-10-23 |
公开(公告)号: | CN207517646U | 公开(公告)日: | 2018-06-19 |
发明(设计)人: | 袁华斌 | 申请(专利权)人: | 常州亿晶光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 常州市英诺创信专利代理事务所(普通合伙) 32258 | 代理人: | 郑云 |
地址: | 213000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 硅片 方阻 缓存区 花篮 硅片输送 校正区 下片 装满 本实用新型 自动化测试 测试 标准对比 标准上限 标准下限 测试效率 硅片放置 批量检测 测试区 上料区 下料区 分出 划伤 片区 破片 取片 上片 校正 卸下 污染 | ||
1.一种自动测方阻设备,其特征在于:包括上料部分、测试部分、下料部分和控制部分,所述上料部分包括上料区(1)、下片区(2)、第一缓存区(3)和校正区(4),所述测试部分包括测试区(5),所述下料部分包括第二缓存区(6)、分片区(7)、上片区(8)和下料区(9),所述上料区(1)、下片区(2)、第一缓存区(3)、校正区(4)、测试区(5)、第二缓存区(6)、分片区(7)、上片区(8)和下料区(9)呈流水线依次设置,所述控制部分分别控制上料区(1)、下片区(2)、第一缓存区(3)、校正区(4)、测试区(5)、第二缓存区(6)、分片区(7)、上片区(8)和下料区(9)。
2.如权利要求1所述的自动测方阻设备,其特征在于:所述上料区(1)包括传输装置,两组所述传输装置上下间隔设置,所述传输装置的右侧固定安装有右光电传感器,所述右光电传感器与所述控制部分电连接。
3.如权利要求1所述的自动测方阻设备,其特征在于:所述下片区(2)包括下片装置、夹紧装置和输送装置,所述下片装置包括联动装置和固定台(2-1),所述联动装置驱动所述固定台(2-1)实现升降,所述夹紧装置固定安装在所述固定台(2-1)的上方,所述输送装置包括传输装置和活动运输装置,所述传输装置固定安装在所述固定台(2-1)上,并位于所述夹紧装置的正下方,所述活动运输装置位于夹紧装置与传输装置之间。
4.如权利要求1所述的自动测方阻设备,其特征在于:所述第一缓存区(3)和第二缓存区(6)均包括联动装置、传输装置和储物篮,所述储物篮罩设所述传输装置,所述联动装置驱动所述储物篮实现升降。
5.如权利要求4所述的自动测方阻设备,其特征在于:所述储物篮包括卡板(3-1),两个所述卡板(3-1)平行且间隔设置,所述传输装置位于两个所述卡板(3-1)之间,所述卡板(3-1)上开设有若干缓存槽(3-2),两个所述卡板(3-1)上的缓存槽(3-2)一一对应设置,所述卡板(3-1)上固定安装有左、右光电传感器,所述左、右光电传感器分别位于缓存槽(3-2)的两端。
6.如权利要求1所述的自动测方阻设备,其特征在于:所述校正区(4)包括传输装置、左、右光电传感器和校准装置,所述校准装置包括呈排排列的滑轮组(4-1)和驱动装置,两组所述滑轮组(4-1)分别位于传输装置的两侧,并与所述传输装置平行设置,所述滑轮组(4-1)由驱动装置驱动靠近或远离传输装置,所述左、右光电传感器分别位于传输装置的两端。
7.如权利要求2所述的自动测方阻设备,其特征在于:所述测试区(5)包括传输装置、测试平台(5-1)、测试四探针面板和升降装置,所述测试四探针面板固定安装在所述测试平台(5-1)上,所述测试平台(5-1)位于所述传输装置的正上方,所述升降装置位于所述传输装置的正下方,所述升降装置上固定安装有用于放置硅片的载物台(5-2),所述升降装置驱动载物台(5-2)上的硅片靠近或远离测试平台(5-1),所述测试区(5)的左、右两侧分别固定安装有左、右光电传感器,所述左、右光电传感器均与所述控制部分电连接。
8.如权利要求2所述的自动测方阻设备,其特征在于:所述分片区(7)包括传输装置和运动装置,所述传输装置的左侧固定安装有左光电传感器,所述左光电传感器与所述控制部分电连接,所述运动装置包括联动装置、升降装置和吸盘(7-1),所述联动装置位于所述传输装置的正上方,用于驱动升降装置向传输装置的前方或后方移动,所述升降装置滑动安装在所述联动装置上,所述吸盘(7-1)固定安装在所述升降装置上。
9.如权利要求3所述的自动测方阻设备,其特征在于:所述上片区(8)包括上片装置、夹紧装置和输送装置,所述上片装置包括联动装置和固定台(2-1),所述联动装置驱动所述固定台(2-1)实现升降,所述夹紧装置固定安装在所述固定台(2-1)的上方,所述输送装置包括传输装置和活动运输装置,所述传输装置固定安装在所述固定台(2-1)上,并位于所述夹紧装置的正下方,所述活动运输装置位于夹紧装置与传输装置之间。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造