[发明专利]存储器件、存储器控制器及其操作方法在审

专利信息
申请号: 201711383740.8 申请日: 2017-12-20
公开(公告)号: CN108427892A 公开(公告)日: 2018-08-21
发明(设计)人: 具滋现;权正贤 申请(专利权)人: 爱思开海力士有限公司
主分类号: G06F21/73 分类号: G06F21/73
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 李少丹;许伟群
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 存储器件 存储器控制器 冗余区域 比特位 标识符 读取存储器 检测数据 写入操作 预设 检测
【说明书】:

一种存储器控制器的操作方法可以包括:对存储器件的冗余区域执行预设次数的写入操作,读取存储器件的冗余区域的数据并检测数据中出现的错误比特位,以及基于检测到的错误比特位来产生与存储器件相对应的标识符。

相关申请的交叉引用

本申请要求2017年2月13日提交的申请号为10-2017-0019343的韩国专利申请的优先权,其全部内容通过引用合并于此。

技术领域

各种实施例涉及一种存储器件,更具体地,涉及一种产生并分配存储器件的标识符的方法。

背景技术

包括存储器件的存储系统被应用于针对消费者或工业的各种电子设备中,例如计算机、移动电话、便携式数字助理(PDA)、数码相机、游戏机、导航系统等,并且用作主存储器件或辅助存储器件。这样的存储系统可以根据耦接到应用于存储系统的电子设备的接口协议而被实现为各种类型的储存器件中的一种。例如,各种类型的储存器件可以包括:固态硬盘(SSD)、MMC、嵌入式MMC(eMMC)、缩小尺寸MMC(RS-MMC)、微型MMC、安全数字(SD)卡(SD,迷你-SD或微型-SD)、通用储存总线(USB)器件、通用快闪储存(UFS)器件、紧凑型快闪(CF)卡、智能媒体卡和记忆棒。

根据半导体制造工艺制造包括在存储系统中的存储器件或存储芯片。半导体制造工艺可以包括如下至少三个步骤。

在第一步骤中,由半导体制造商制造存储芯片或存储裸片。各种逻辑块、存储器结构和其它半导体电路形成在半导体晶片或任意合适的衬底上。单个晶片通常包括大量相同芯片电路的复制品。在晶片工艺之后,测试所生产的芯片电路,并将晶片切割成多个裸片。由于裸片容易损坏,因此功能性裸片可以安装在其它材料(例如,塑料带)上以利于其它工艺。

在第二步骤中,可以初始化包括功能性裸片的存储芯片。对于特定的应用,可以使能和/或初始化存储芯片的各种组件。这样的工艺可以由被配置为将特定的初始化数据加载到存储芯片上的初始化设备来执行。对于特定的应用,可以将相同的初始化数据加载到所有的存储芯片。该步骤使存储芯片适合于特定的应用。

在第三步骤中,通过密钥和/或标识符来个性化存储芯片。例如,安全应用供应商可以使用用于期望的安全应用的密钥和/或标识符。对于该操作,此时可以将不同的个性化数据加载到各个存储芯片。

通常,通过具有特定加密算法的密钥和/或标识符发生器来产生密钥和/或标识符。由于这样的加密算法是基于数学特征的,因此通过加密算法计算的密钥和/或标识符不可避免地具有特定的模式。因此,当密钥和/或标识符发生器的加密算法被捕获时,通过对应的加密算法产生的密钥和/或标识符可以容易地被未经授权的用户解码。

发明内容

各种实施例涉及一种基于存储器件的特性来产生并分配能够区分存储器件的标识符的方法。

根据本发明的一个实施例,存储器控制器的操作方法包括:对存储器件的冗余区域执行预设次数的写入操作;从存储器件的冗余区域读取读取数据,并且检测读取数据中出现的错误比特位;以及基于检测到的错误比特位来产生针对存储器件的标识符。

根据本发明的一个实施例,存储器控制器包括:写入/读取操作控制单元,其适用于使用写入数据来对存储器件的冗余区域执行预设次数的写入操作;错误检测单元,其适用于检测来自存储器件的冗余区域的读取数据中出现的错误比特位;以及标识符发生单元,其适用于基于检测到的错误比特位来产生与存储器件相对应的标识符。

根据本发明的一个实施例,存储器件包括:存储单元阵列,其包括正常区域和冗余区域;以及控制逻辑,其适用于响应于指示进入预设操作模式的命令,通过对存储单元阵列的冗余区域执行预设次数的写入操作来产生标识符。

附图说明

图1是示出根据本发明的实施例的存储器控制器的框图。

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