[发明专利]一种柔性有机薄膜晶体管基板的制造方法在审

专利信息
申请号: 201711190477.0 申请日: 2017-11-24
公开(公告)号: CN107978615A 公开(公告)日: 2018-05-01
发明(设计)人: 韦新颖;薛晓阳;杜勇;黄皓坚;谢芯瑀;高启仁 申请(专利权)人: 成都捷翼电子科技有限公司
主分类号: H01L27/28 分类号: H01L27/28;H01L21/77;H01L51/05
代理公司: 成都信博专利代理有限责任公司51200 代理人: 张辉
地址: 610213 四川省成都市双*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 柔性 有机 薄膜晶体管 制造 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及有机薄膜晶体管制造领域,特别是一种柔性有机薄膜晶体管基板的制造方法。

背景技术

近年来,随着柔性电子、智能传感等应用领域的发展,有机薄膜晶体管(OTFT,Organic Thin Film Transistor)以其材料来源广泛,适用于柔性基板,可大面积、低成本生产等特点成为研究的热点。

通常OTFT结构包括栅电极、栅绝缘层、有机半导体层、源漏电极,根据各层堆叠顺序不同,可分为底栅底接触、底栅顶接触、顶栅顶接触和顶栅底接触四种结构。制作成显示用阵列基板,还包括连接栅电极的扫描线、连接源电极的数据线、连接漏电极的像素电极、介于漏电极和像素电极时间的层间绝缘层以及存储电容电极等,如图1所示。目前,每层图案的制备都是采用光刻工艺实现的,整个OTFT基板的制作需要6张掩膜版。通常光刻工艺包含光刻胶的涂布、曝光和显影工序。

现有的光刻技术中,每层图案的形成都需要精细的掩膜版,层与层之间需要精确的对位,由于所需掩膜版数量多,对位要求高,所以相对生产效率低、成本高。例如,中国专利CN102629620 B采用连续溅镀像素电极层和源漏电极层,利用半曝光或灰度掩模技术一次对位曝光、显影,一次光刻胶灰化,两次蚀刻的方法得到源漏电极、像素电极和数据线。相比于传统,该方法仅减少一次对位曝光,显影(相当于灰化)和工序蚀刻并没有减少,并且有机半导体材料对水、氧及其它化学溶液非常敏感,尤其在光刻胶灰化的过程中会严重导致其性能劣化。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种柔性有机薄膜晶体管基板的制造方法,多层材料一次曝光、显影,节省掩膜版成本,提高对位精度,提高生产效率;有效保护有机半导体及其界面,免受其它化学药液或等离子体的损伤,有利于其性能的稳定。

为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案是:

一种柔性有机薄膜晶体管基板的制造方法,用于制造底栅底接触结构基板,包括以下步骤:

步骤1:在基板上采用成膜手段制备第一导电层,所述第一导电层的材质为金属、金属氧化物或非金属;

步骤2:使用第一张掩膜版,采用光刻工艺和湿法刻蚀完成OTFT栅电极,扫描线及其接触脚位,存储电容电极及其公共端脚位的图案化;

步骤3:采用成膜手段制备绝缘层材料,使用第二张掩膜版,采用光刻工艺和湿法刻蚀完成绝缘层的图案化,露出扫描线电极、存储电容公共脚位;对于接受一定波长的光就能发生交联固化的绝缘材料,即光固性材料通过所述光刻工艺和湿法刻蚀完成绝缘层材料的图案化,对接受一定波长的光就能发分解而溶于特定溶剂的绝缘层材料,即光溶性材料同样通过所述光刻工艺和湿法刻蚀完成绝缘层材料的图案化;

步骤4:采用成膜手段制备第二导电层,使用第三张掩膜版,采用光刻工艺和湿法刻蚀完成源极、漏电极、像素电极、数据线及其接触脚位的图案化;其中,像素电极是放大的漏极;

步骤5:连续采用成膜手段制备有机半导体层和绝缘保护层,使用第四张掩膜版,采用光刻工艺并以绝缘保护层材料为掩模,对有机半导体材料进行湿法蚀刻,完成半导体层和绝缘保护层的图案化;若对于同为光固或光溶性的、能溶于同一溶剂的有机半导体材料和绝缘层材料,通过一次所述光刻工艺和湿法刻蚀完成两层材料的图案化。

具体的,在步骤1中,所述金属包括金、银、铜、铝、钼、钨及其合金,所述非金属包括石墨烯、碳纳米管及导电聚合物材料。

具体的,所述成膜手段包括沉积、涂布或印刷。

一种柔性有机薄膜晶体管基板的制造方法,用于制造顶栅底接触结构基板,包括以下步骤:

步骤1:在基板上采用成膜手段制备第一导电层,所述第一导电层的材质为金属、金属氧化物或非金属;

步骤2:使用第一张掩膜版,采用光刻工艺和湿法刻蚀完成OTFT源极、漏电极、数据线及其接触脚位、存储电容电极及其公共端脚位的图案化;

步骤3:连续采用成膜手段制备有机半导体、绝缘层材料和第二导电层;使用第二张掩膜版,采用光刻工艺一次曝光显影、三次蚀刻完成有机半导体、绝缘层材料和第二导电层的图案化;其中,三次蚀刻分别是第一次蚀刻第二导电层,即OTFT栅极及扫描线电极,第二次蚀刻绝缘层和第三次蚀刻有机半导体层;

步骤4:采用成膜手段制备层间绝缘层或平坦层材料,使用第三张掩膜版,采用光刻工艺和湿法刻蚀完成漏极-像素电极接触孔和周边数据、扫描线接触脚位图案;

步骤5:采用成膜手段制备第三导电层,使用第四张掩膜版,采用光刻工艺和湿法刻蚀完成像素电极的图案化。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都捷翼电子科技有限公司,未经成都捷翼电子科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711190477.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top