[发明专利]薄膜结构的LED芯片及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201711067896.5 申请日: 2017-11-03
公开(公告)号: CN107910406A 公开(公告)日: 2018-04-13
发明(设计)人: 黄慧诗;张秀敏;华斌;郑宝玉 申请(专利权)人: 江苏新广联半导体有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/06;H01L33/32;H01L33/38;H01L33/62
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)32104 代理人: 曹祖良,刘海
地址: 214192 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 薄膜 结构 led 芯片 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种薄膜结构的LED芯片,其特征是:包括硅基板(8),硅基板(8)的下表面设置硅基板下电极(9),硅基板(8)的上表面设置硅基板键合电极层(7),硅基板键合电极层(7)的上表面设置芯片键合电极层(6),芯片键合电极层(6)的上表面设置多个凹槽,在凹槽的底部和侧壁设置绝缘层(5),在凹槽中从下至上依次设置反射层(4)、P-GaN层(3)和MQW量子阱(2);在所述芯片键合电极层(6)的上表面覆盖N-GaN层(1),N-GaN层(1)覆盖芯片键合电极层(6)的上表面和凹槽的上部,N-GaN层(1)与芯片键合电极层(6)和MQW量子阱(2)接触;在所述N-GaN层(1)上设置开口,开口的底部暴露出反射层(4),在反射层(4)上设置芯片正电极焊盘层(10)。

2.一种薄膜结构的LED芯片的制造方法,其特征是,包括以下步骤:

步骤1:在蓝宝石衬底上生长LED外延结构,LED外延结构包括依次生长的N-GaN层(1)、MQW量子阱(2)和P-GaN层(3);

步骤2:在N-GaN层(1)上刻蚀浅槽,浅槽由P-GaN层(3)的上表面延伸至N-GaN层(1)的上部;

步骤3:在P-GaN层(3)上制作反射层(4);

步骤4:在晶圆表面制备绝缘层(5),并刻蚀绝缘层(5),使绝缘层(5)形成多个不连续的部分,每个部分的绝缘层(5)均包裹反射层(4)、P-GaN层(3)和MQW量子阱(2);

步骤5:在晶圆表面制作芯片键合电极层(6),芯片键合电极层(6)通过浅槽与N-GaN层(1)连接;

步骤6:将晶圆与蒸镀有键合层的硅基板(8)键合,硅基板(8)的一表面蒸镀硅基板下电极层(9),硅基板(8)的另一表面蒸镀硅基板键合电极层(7),将芯片键合电极层(6)与硅基板键合电极层(7)进行键合;

步骤7:将蓝宝石衬底剥离,在剥离面进行刻蚀形成开口,开口由N-GaN层(1)的表面延伸至反射层(4);

步骤8:在步骤7得到的开口处制作芯片正极焊盘层(10)。

3.如权利要求2所述的薄膜结构的LED芯片的制造方法,其特征是:所述反射层(4)的金属为AgTiW。

4.如权利要求2所述的薄膜结构的LED芯片的制造方法,其特征是:所述芯片键合电极层(6)的金属依次为Cr/Al/Pt/Au/Sn,其中Sn层厚度不低于1μm。

5.如权利要求2所述的薄膜结构的LED芯片的制造方法,其特征是:所述步骤6中,键合温度为250~350℃,键合压力为1000~5000N,键合时间为10~30min。

6.如权利要求2所述的薄膜结构的LED芯片的制造方法,其特征是:所述芯片正极焊盘层(10)的金属依次为Cr/Al/Pt/Au,其中Au层厚度不低于1um。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏新广联半导体有限公司,未经江苏新广联半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711067896.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top