[发明专利]薄膜结构的LED芯片及其制造方法在审
| 申请号: | 201711067896.5 | 申请日: | 2017-11-03 |
| 公开(公告)号: | CN107910406A | 公开(公告)日: | 2018-04-13 |
| 发明(设计)人: | 黄慧诗;张秀敏;华斌;郑宝玉 | 申请(专利权)人: | 江苏新广联半导体有限公司 |
| 主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/06;H01L33/32;H01L33/38;H01L33/62 |
| 代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)32104 | 代理人: | 曹祖良,刘海 |
| 地址: | 214192 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 薄膜 结构 led 芯片 及其 制造 方法 | ||
1.一种薄膜结构的LED芯片,其特征是:包括硅基板(8),硅基板(8)的下表面设置硅基板下电极(9),硅基板(8)的上表面设置硅基板键合电极层(7),硅基板键合电极层(7)的上表面设置芯片键合电极层(6),芯片键合电极层(6)的上表面设置多个凹槽,在凹槽的底部和侧壁设置绝缘层(5),在凹槽中从下至上依次设置反射层(4)、P-GaN层(3)和MQW量子阱(2);在所述芯片键合电极层(6)的上表面覆盖N-GaN层(1),N-GaN层(1)覆盖芯片键合电极层(6)的上表面和凹槽的上部,N-GaN层(1)与芯片键合电极层(6)和MQW量子阱(2)接触;在所述N-GaN层(1)上设置开口,开口的底部暴露出反射层(4),在反射层(4)上设置芯片正电极焊盘层(10)。
2.一种薄膜结构的LED芯片的制造方法,其特征是,包括以下步骤:
步骤1:在蓝宝石衬底上生长LED外延结构,LED外延结构包括依次生长的N-GaN层(1)、MQW量子阱(2)和P-GaN层(3);
步骤2:在N-GaN层(1)上刻蚀浅槽,浅槽由P-GaN层(3)的上表面延伸至N-GaN层(1)的上部;
步骤3:在P-GaN层(3)上制作反射层(4);
步骤4:在晶圆表面制备绝缘层(5),并刻蚀绝缘层(5),使绝缘层(5)形成多个不连续的部分,每个部分的绝缘层(5)均包裹反射层(4)、P-GaN层(3)和MQW量子阱(2);
步骤5:在晶圆表面制作芯片键合电极层(6),芯片键合电极层(6)通过浅槽与N-GaN层(1)连接;
步骤6:将晶圆与蒸镀有键合层的硅基板(8)键合,硅基板(8)的一表面蒸镀硅基板下电极层(9),硅基板(8)的另一表面蒸镀硅基板键合电极层(7),将芯片键合电极层(6)与硅基板键合电极层(7)进行键合;
步骤7:将蓝宝石衬底剥离,在剥离面进行刻蚀形成开口,开口由N-GaN层(1)的表面延伸至反射层(4);
步骤8:在步骤7得到的开口处制作芯片正极焊盘层(10)。
3.如权利要求2所述的薄膜结构的LED芯片的制造方法,其特征是:所述反射层(4)的金属为AgTiW。
4.如权利要求2所述的薄膜结构的LED芯片的制造方法,其特征是:所述芯片键合电极层(6)的金属依次为Cr/Al/Pt/Au/Sn,其中Sn层厚度不低于1μm。
5.如权利要求2所述的薄膜结构的LED芯片的制造方法,其特征是:所述步骤6中,键合温度为250~350℃,键合压力为1000~5000N,键合时间为10~30min。
6.如权利要求2所述的薄膜结构的LED芯片的制造方法,其特征是:所述芯片正极焊盘层(10)的金属依次为Cr/Al/Pt/Au,其中Au层厚度不低于1um。
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