[发明专利]一种高结温雪崩二极管芯片组件及其制造方法在审
申请号: | 201711013289.0 | 申请日: | 2017-10-26 |
公开(公告)号: | CN107658346A | 公开(公告)日: | 2018-02-02 |
发明(设计)人: | 吴家健;沈怡东;潘蔡军;朱倩;欧阳潇 | 申请(专利权)人: | 捷捷半导体有限公司 |
主分类号: | H01L29/861 | 分类号: | H01L29/861;H01L23/49;H01L21/329 |
代理公司: | 南京正联知识产权代理有限公司32243 | 代理人: | 卢海洋 |
地址: | 226200 江苏省南通市苏通科技产*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高结温 雪崩 二极管 芯片 组件 及其 制造 方法 | ||
1.一种高结温雪崩二极管芯片组件,包括正面金属片、二极管扩散圆片和背面金属片;所述二极管扩散圆片的两面均设有镍膜;所述两层镍膜的外侧面与正面金属片、背面金属片的内侧面设有焊料层;所述正面金属片上设有应力吸收槽路,应力吸收槽路上设有沟槽,沟槽上设PN结聚酰亚胺钝化层。
2.根据权利要求1所述的一种高结温雪崩二极管芯片组件,其特征在于:所述正面金属片和背面金属片的厚度为125μm~500μm,其尺寸与二极管扩散圆片一致。
3.根据权利要求1所述的一种高结温雪崩二极管芯片组件,其特征在于:所述正面金属片和背面金属片为晶圆级的内引线金属电极片。
4.一种高结温雪崩二极管芯片组件的制造方法,包括以下步骤:
(1)取(P+-N-N+)的二极管扩散圆片作基片,厚度为150μm~350μm;
(2)用化学镀、真空蒸镀或溅射的方法,将二极管扩散圆片的正反面镀上镍膜,厚度为0.5μm~1μm,镀镍膜后圆片的厚度为151μm~352μm;
(3)使用真空烧结或回流焊的方法,在焊料层用焊料【Pb(90%~97%)、Sn(3%~7.5%)、Ag(0%~2.5%)】把镀有镍膜的二极管扩散圆片分别与正面金属片、背面金属片的内侧面焊接在一起形成圆形片,焊料厚度为20μm~60μm,圆形片总厚度为441μm~1472μm;
(4)在正面金属片上沿着应力吸收槽路用宽刀切割到深度242.55μm~809.6μm形成沟槽;
(5)用碱液对沟槽内的侧壁和底部进行腐蚀、冲洗、烘干;
(6)在沟槽的侧壁和底部涂聚酰亚胺并固化,形成PN结聚酰亚胺钝化层;
(7)用窄刀划切分离芯片组件。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于捷捷半导体有限公司,未经捷捷半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711013289.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类