[发明专利]一种高结温雪崩二极管芯片组件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201711013289.0 申请日: 2017-10-26
公开(公告)号: CN107658346A 公开(公告)日: 2018-02-02
发明(设计)人: 吴家健;沈怡东;潘蔡军;朱倩;欧阳潇 申请(专利权)人: 捷捷半导体有限公司
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L23/49;H01L21/329
代理公司: 南京正联知识产权代理有限公司32243 代理人: 卢海洋
地址: 226200 江苏省南通市苏通科技产*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 高结温 雪崩 二极管 芯片 组件 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种高结温雪崩二极管芯片组件,包括正面金属片、二极管扩散圆片和背面金属片;所述二极管扩散圆片的两面均设有镍膜;所述两层镍膜的外侧面与正面金属片、背面金属片的内侧面设有焊料层;所述正面金属片上设有应力吸收槽路,应力吸收槽路上设有沟槽,沟槽上设PN结聚酰亚胺钝化层。

2.根据权利要求1所述的一种高结温雪崩二极管芯片组件,其特征在于:所述正面金属片和背面金属片的厚度为125μm~500μm,其尺寸与二极管扩散圆片一致。

3.根据权利要求1所述的一种高结温雪崩二极管芯片组件,其特征在于:所述正面金属片和背面金属片为晶圆级的内引线金属电极片。

4.一种高结温雪崩二极管芯片组件的制造方法,包括以下步骤:

(1)取(P+-N-N+)的二极管扩散圆片作基片,厚度为150μm~350μm;

(2)用化学镀、真空蒸镀或溅射的方法,将二极管扩散圆片的正反面镀上镍膜,厚度为0.5μm~1μm,镀镍膜后圆片的厚度为151μm~352μm;

(3)使用真空烧结或回流焊的方法,在焊料层用焊料【Pb(90%~97%)、Sn(3%~7.5%)、Ag(0%~2.5%)】把镀有镍膜的二极管扩散圆片分别与正面金属片、背面金属片的内侧面焊接在一起形成圆形片,焊料厚度为20μm~60μm,圆形片总厚度为441μm~1472μm;

(4)在正面金属片上沿着应力吸收槽路用宽刀切割到深度242.55μm~809.6μm形成沟槽;

(5)用碱液对沟槽内的侧壁和底部进行腐蚀、冲洗、烘干;

(6)在沟槽的侧壁和底部涂聚酰亚胺并固化,形成PN结聚酰亚胺钝化层;

(7)用窄刀划切分离芯片组件。

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