[发明专利]存储器件、包括它的半导体系统和驱动半导体系统的方法

权利要求书

1.一种半导体器件，包括：

至少一个正常块，适用于储存正常数据；

至少一个样本块，适用于储存样本数据；

现象分析块，适用于基于样本数据产生至少一个现象分析信号；以及

控制块，适用于基于所述至少一个现象分析信号，控制读取正常数据时所需的参考数据的电平。

2.根据权利要求1所述的半导体器件，其中，样本数据具有与正常数据所具有的相同比例的两个或更多数据值。

3.根据权利要求1所述的半导体器件，其中，控制块包括：

参考数据发生单元，适用于产生多个数据，各个数据具有不同的电平；

参考数据选择单元，适用于基于选择控制信号来选择所述多个数据中的一个作为参考数据；以及

选择控制单元，适用于基于所述至少一个现象分析信号产生选择控制信号。

4.根据权利要求1所述的半导体器件，其中，现象分析块包括：

比较数据储存单元，适用于储存比较数据，所述比较数据具有与样本数据的预定数据模式相同的数据模式，所述样本数据具有与正常数据所具有的相同比例的两个或更多数据值；

数据比较单元，适用于将比较数据与样本数据比较；以及

比率计算单元，适用于基于数据比较单元的比较结果来产生所述至少一个现象分析信号，其中，所述至少一个现象分析信号包括与数据值的比率相对应的第一现象分析信号和第二现象分析信号。

5.根据权利要求1所述的半导体器件，还包括：

读取电路块，适用于基于参考数据读取正常数据中的至少一个或者读取样本数据。

6.根据权利要求1所述的半导体器件，其中，样本块包括起始-间隔块。

7.根据权利要求1所述的半导体器件，其中，样本块设置成与正常块相邻或者设置在正常块中。

8.一种半导体系统，包括：

半导体器件，适用于储存正常数据和样本数据，其中，样本数据表示正常数据的特性；以及

控制器件，适用于基于样本数据分析正常数据中发生的现象，其中，现象包括漂移现象和残留现象。

9.根据权利要求8所述的半导体系统，其中，样本数据具有与正常数据所具有的相同比例的两个或更多数据值。

10.根据权利要求8所述的半导体系统，其中，所述半导体器件基于控制器件所产生的至少一个现象分析信号来控制读取正常数据中的至少一个时所需的参考数据的电平，所述至少一个现象分析信号对应于现象分析的结果。

11.根据权利要求10所述的半导体系统，其中，所述半导体器件包括：

至少一个正常块，适用于储存正常数据；

至少一个样本块，适用于储存样本数据；以及

控制块，适用于基于所述至少一个现象分析信号控制参考数据的电平。

12.根据权利要求11所述的半导体系统，其中，控制块包括：

参考数据发生单元，适用于产生多个数据，各个数据具有不同的电平；

参考数据选择单元，适用于基于选择控制信号选择所述多个数据中的一个作为参考数据；以及

选择控制单元，适用于基于所述至少一个现象分析信号产生选择控制信号。

13.根据权利要求11所述的半导体系统，其中，所述半导体器件还包括：

读取电路块，适用于基于参考数据读取正常数据中的至少一个或者读取样本数据。

14.根据权利要求11所述的半导体系统，其中，样本块包括起始-间隔块。

15.根据权利要求11所述的半导体系统，其中，样本块设置成与正常块相邻或者设置在正常块中。