[发明专利]一种阻抗测试探头及一种PCB阻抗测试机

说明书

技术领域

本发明涉及PCB生产制造技术领域，具体涉及一种阻抗测试探头及一种PCB阻抗测试机。

背景技术

现有技术中PCB阻抗测试机领域的高频阻抗测试探针都采用的固定间距的探针组，高频阻抗测试过程中需要将两个探针短接(即导通探针电路)，而短接的位置越靠近探针针尖部位探针电性能越好，测试结果越精确。因此，如何在实现探针之间距离和角度可调节的同时不影响其测试性能是该领域急需解决的技术难题。

目前阻抗自动测试机上的探针间距是固定的，因此探针之间可以采用铜片等短接材料直接短接，而可调探针间距的探针由于探针之间会发生相对移动和接触，若仍采用固定的短接铜片短接，在探针间距调节过程中探针和铜片短接部位会因为移动摩擦产生损耗，导致探针损坏或短接效果变差。因而这种铜片直接短接的方式不能很好的适用于可调探针间距的探针组上。同时要实现可调探针间距和角度的阻抗自动测试机，现有的固定式探针装置就无法应用在可调间距的阻抗测试机上。

发明内容

因此，本发明要解决的技术问题在于克服现有技术中的探针角度和间距不可调节以及现有的探针装置无法适用于可调间距的阻抗测试机上的缺陷，从而提供一种在间距和角度发生变化时仍能达到良好的短接效果和测试性能的探针。

为此，本发明的技术方案如下：

一种阻抗测试探头，其包括：探针，所述探针设置有至少两根；以及探针短接装置；所述探针短接装置为弹性短接装置，所述探针短接装置的一端与其中一个探针的针头固定连接，另一端可与其余任意一个探针的针头接触连接。

进一步地，所述弹性短接装置包括弹簧，所述弹簧的一端与其中一个探针的针头固定连接。

进一步地，所述弹性短接装置还包括弹簧短路装置，所述弹簧短路装置与所述弹簧的每一圈连接。

进一步地，所述弹簧采用导电金属材料。

进一步地，所述弹簧短路装置为短接导线或导电金属丝。

进一步地，所述弹性短接装置为金属弹片或者弹性金属丝，所述金属弹片或者所述弹性金属丝的一端与其中一个探针的针头固定连接。

进一步地，所述金属弹片和所述弹性金属丝均采用导电金属材料。

进一步地，所述导电金属材料为铜。

进一步地，除固定有所述探针短接装置的探针外的其余探针上还设置有与针头连接的导电块。

进一步地，所述导电块为套设在所述针头上方的导电环。

一种PCB阻抗测试机，其包括：上述任意一项所述的阻抗测试探头；

以及控制装置，所述控制装置与所述动力装置连接，所述控制装置控制所述测试探头的探针运动。

本发明技术方案，具有如下优点：

1.本发明提供的阻抗测试探头，其中探针之间的短接使用柔性短接，可以使高频阻抗测试的探针针尖间距和角度实现可调，节约了探针组的成本并提高了工作效率和测试精度，同时使阻抗测试的自动化生产变为可能。

2.本发明提供的阻抗测试探头，其中设置有短接装置，当两个探针在短接状态下有电流通过时，采用短接导线连接弹簧以消除短接弹簧形成的电感，确保阻抗测试的精度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明的阻抗测试探头的结构示意图；

附图标记说明：

1-第一探针；2-第二探针；3-弹簧短接装置；4-弹簧；5-弹簧短路装置。

具体实施方式

下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。