[发明专利]探头末端和探头组件在审
| 申请号： | 201811318689.7 | 申请日： | 2018-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN109752574A | 公开（公告）日： | 2019-05-14 |
| 发明（设计）人： | J.A.坎贝尔;W.A.哈格拉普;I.G.波洛克;C.D.恩斯;J.E.斯皮纳;K.F.M.尤罗姆;C.M.哈特曼;D.J.艾尔斯 | 申请（专利权）人： | 特克特朗尼克公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 佘鹏;王丽辉 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 测试探头末端可包括与末端部件耦接的电阻元件。电阻元件可包括设置在电阻阻抗元件的结构构件的外表面上的电阻层。在实施例中，电阻元件可以被构造为形成测试探头末端的结构部件，而没有施加至其的绝缘覆盖物。另外的实施例可以在此被描述和/或被要求。 | ||
| 搜索关键词： | 电阻元件 测试探头 绝缘覆盖物 电阻阻抗 结构部件 结构构件 末端部件 探头末端 探头组件 电阻层 耦接 施加 | ||
【主权项】：
1.一种测试探头末端，包括：电阻元件，其具有施加到电阻阻抗元件的结构构件的外表面的电阻层；以及末端部件，其被构造成与所述电阻元件耦接，其中，所述电阻元件被构造成与所述末端部件电耦接和机械耦接，使得所述电阻元件形成所述测试探头末端的结构部件，而没有施加至其的绝缘覆盖物。
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