[发明专利]一种用于半导体测试装置的旋转机架

权利要求书

1.一种用于半导体测试装置的旋转机架，其特征在于：包括两个平行放置的底座板(1)，两个底座板(1)之间安装有底座固定板(2)，且两个底座板(1)上分别安装有对应设置的底座立柱(3)；且两侧的底座立柱(3)上均安装有横向的连接底板(4)，而所述的连接底板(4)的外侧端均安装有一竖直放置的制动板(5)，两侧的制动板(5)的内侧均安装有旋转轴承(6)，该旋转轴承(6)中均安装有旋转轴(7)，两侧的旋转轴(7)位置对应，而半导体测试机则安装在两端对应的旋转轴(7)上，且两侧的制动板(5)上至少有一侧还安装有用于旋转测试机的旋转机构。

2.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试装置的旋转机架，其特征在于：所述的旋转机构包括旋转手轮(8)和行星减速器(9)；所述的行星减速器(9)固定安装在制动板(5)的外侧，所述的制动板(5)上设置有一安装孔(51)，所述的旋转轴(6)的位置与行星减速器(9)的输出轴的位置相对应，且旋转轴(6)从安装孔(51)伸入与行星减速器(9)的输出轴对接安装成一体。

3.根据权利要求2所述的一种用于半导体测试装置的旋转机架，其特征在于：所述的制动板(5)的安装孔(51)中还设置有一锁紧圈(52)，该锁紧圈(52)的一侧安装在安装孔(51)的侧壁上，而所述的旋转轴(7)安装在锁紧圈(52)中，而锁紧圈(52)的一侧则设置有开口，且从该开口处延伸有两块横向的锁紧块(53)，且上层的锁紧块(53)和安装孔(51)的上孔壁设置有相对应的通孔(54)，而下层的锁紧块(53)上安装有一锁紧螺杆(55)，该锁紧螺杆(54)竖直向上从上层的锁紧块(53)和安装孔(51)的通孔(54)伸出到制动板(5)外部，且在锁紧螺杆(54)的端部还安装有锁紧螺母(55)。

4.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试装置的旋转机架，其特征在于：所述的旋转轴(7)的端部还安装有连接圆盘(10)，连接圆盘(10)上还安装有竖直连接板(11)。

5.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试装置的旋转机架，其特征在于：所述的底座板(1)上还设置有缓冲支架(12)。

6.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试装置的旋转机架，其特征在于：所述底座立柱(3)为伸缩式可调高度可固定位置的立柱。

7.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试装置的旋转机架，其特征在于：所述的行星减速器(9)的输出传动比为80:1。