[发明专利]一种基于近场非标准光源的磨痕三维形貌原位获取方法在审
申请号: | 201710794117.5 | 申请日: | 2017-09-06 |
公开(公告)号: | CN107657604A | 公开(公告)日: | 2018-02-02 |
发明(设计)人: | 武通海;杨羚烽;霍彦文;王硕 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T5/00;G06T7/194;G01B11/24 |
代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所61215 | 代理人: | 弋才富 |
地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 近场 非标准 光源 三维 形貌 原位 获取 方法 | ||
1.一种基于近场非标准光源的磨痕三维形貌原位获取方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)建立非标准点光源的光照模型,非标准点光源Quasi点光源的发光模型包括角度衰减和距离衰减,结合这两种光照衰减模型,得到表面任一点的照度模型;
(2)标定光源空间坐标,针对六个均匀布置的非标准点光源,基于平面的主光轴标定法,利用点光源照射下的平面亮度分布的轴对称属性,计算光源的最亮光线及平面主光轴的方向;
(3)使用手持式显微镜得到零件表面不同光源、同一视点下的图像,基于图像处理技术,获取Mask图;
(4)根据标定的光源方向和获取的图像信息计算磨损表面法向量,利用已知形状对表面进行初始化的迭代计算,以恢复零件表面法向及深度信息。
2.根据权利要求1所述的一种基于近场非标准光源的磨痕三维形貌原位获取方法,其特征在于,
所述步骤1包括如下步骤:
步骤1.1:Quasi点光源的角度衰减模型符合g-cosine定律,该光源在θ角方向上的光照强度Eθ表示为公式(1);
公式(1):Eθ=E0cosgθ
式中E0为主光轴方向的发光强度,g是一个与光源发光均匀度相关的角度衰减因子;
步骤1.2:Quasi点光源的距离衰减模型符合平方反比律,该光源在θ角方向上距离发光源d的光照强度Ep表示为公式(2);
公式(2):
步骤1.3:结合两种光照衰减模型,得到表面某点P的照度为公式(3)所表示的模型:
公式(3):
3.根据权利要求1所述的一种基于近场非标准光源的磨痕三维形貌原位获取方法,其特征在于,
所述步骤2包括如下步骤:
步骤2.1:将均匀分布的6个LED灯安装在手持式显微镜上,使两者相对位置不变;
步骤2.2:依次打开6个LED灯,获取图像,利用5×5高斯滤波器核过滤图像噪声,选取图像中最亮的区域,对该区域进行椭圆拟合,拟合所得的圆心作为最亮点PB(μB,vB,f)的位置;
步骤2.3:根据图像中最亮点PB根据公式(4)计算其对应点的空间坐标PB'(xB,yB,zB),
公式(4):
步骤2.4:计算最亮光线及其在平面上主光轴的方向。
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