[发明专利]一种基于近场非标准光源的磨痕三维形貌原位获取方法在审

专利信息
申请号: 201710794117.5 申请日: 2017-09-06
公开(公告)号: CN107657604A 公开(公告)日: 2018-02-02
发明(设计)人: 武通海;杨羚烽;霍彦文;王硕 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T5/00;G06T7/194;G01B11/24
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所61215 代理人: 弋才富
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 近场 非标准 光源 三维 形貌 原位 获取 方法
【权利要求书】:

1.一种基于近场非标准光源的磨痕三维形貌原位获取方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)建立非标准点光源的光照模型,非标准点光源Quasi点光源的发光模型包括角度衰减和距离衰减,结合这两种光照衰减模型,得到表面任一点的照度模型;

(2)标定光源空间坐标,针对六个均匀布置的非标准点光源,基于平面的主光轴标定法,利用点光源照射下的平面亮度分布的轴对称属性,计算光源的最亮光线及平面主光轴的方向;

(3)使用手持式显微镜得到零件表面不同光源、同一视点下的图像,基于图像处理技术,获取Mask图;

(4)根据标定的光源方向和获取的图像信息计算磨损表面法向量,利用已知形状对表面进行初始化的迭代计算,以恢复零件表面法向及深度信息。

2.根据权利要求1所述的一种基于近场非标准光源的磨痕三维形貌原位获取方法,其特征在于,

所述步骤1包括如下步骤:

步骤1.1:Quasi点光源的角度衰减模型符合g-cosine定律,该光源在θ角方向上的光照强度Eθ表示为公式(1);

公式(1):Eθ=E0cosgθ

式中E0为主光轴方向的发光强度,g是一个与光源发光均匀度相关的角度衰减因子;

步骤1.2:Quasi点光源的距离衰减模型符合平方反比律,该光源在θ角方向上距离发光源d的光照强度Ep表示为公式(2);

公式(2):

步骤1.3:结合两种光照衰减模型,得到表面某点P的照度为公式(3)所表示的模型:

公式(3):

3.根据权利要求1所述的一种基于近场非标准光源的磨痕三维形貌原位获取方法,其特征在于,

所述步骤2包括如下步骤:

步骤2.1:将均匀分布的6个LED灯安装在手持式显微镜上,使两者相对位置不变;

步骤2.2:依次打开6个LED灯,获取图像,利用5×5高斯滤波器核过滤图像噪声,选取图像中最亮的区域,对该区域进行椭圆拟合,拟合所得的圆心作为最亮点PBB,vB,f)的位置;

步骤2.3:根据图像中最亮点PB根据公式(4)计算其对应点的空间坐标PB'(xB,yB,zB),

公式(4):

步骤2.4:计算最亮光线及其在平面上主光轴的方向。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安交通大学,未经西安交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710794117.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top