[发明专利]用于芯片顶层金属屏蔽层的检测装置

权利要求书

1.一种用于芯片顶层金属屏蔽层的检测装置，其特征是，结构是，首先真随机数电路产生一个随机数作为后面线性反馈移位寄存器LFSR的种子，LFSR获得种子后开始工作，不断产生伪随机数，之后LFSR产生的数据经过安全哈希加密电路，安全哈希加密电路的数据分为两路完全相同的数据，一路通入芯片顶层金属屏蔽层，经过屏蔽层之后进入比较电路，另一路直接通入比较电路，如果比较结果显示两路数据相同则表示电路未受到攻击，如果比较结果显示两路数据不相同则表示电路受到攻击，此时产生报警信号通知其他单元采取关键数据销毁防护措施。

2.如权利要求1所述的用于芯片顶层金属屏蔽层的检测装置，其特征是，真随机数电路利用环形振荡器实现。环形振荡器是利用奇数个反相器连成一个环形链构成，由于反相器的数目为奇数，电路不存在任何稳定的工作点，而是以2×T×N的周期震荡，这里N是环形链中反相器的数目，而T是每一个反相器的传播延时，环形振荡器分别产生高频和低频信号，令低频信号作为D触发器时钟，高平信号作为D触发器数据输入，输出即为真随机数。

3.如权利要求1所述的用于芯片顶层金属屏蔽层的检测装置，其特征是，线性反馈移位寄存器LFSR是由带线性反馈的移位寄存器构成的产生伪随机数的电路，LFSR由n级移位D触发器构成，除第一级D1以外，之后每一级触发器输入都是前一级的输出，即触发器D2的输入为触发器D1的输出Q1，以此类推，而第一个触发器D1输入由每一级输出引脚Q中任意选择项异或构成，将真随机数电路产生的真随机数产生的数据作为LFSR的种子，之后LFSR便稳定、高速地产生随机数据。