[发明专利]电连接装置有效
申请号: | 201710441934.2 | 申请日: | 2017-06-13 |
公开(公告)号: | CN109087906B | 公开(公告)日: | 2021-01-15 |
发明(设计)人: | 王志铭;王礼赐;唐天浩 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/62 | 分类号: | H01L23/62;H01L23/535;H01L27/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 连接 装置 | ||
本发明公开一种电连接装置,其包含一金属内连线结构、一第一垂直单元以及一第二垂直单元。金属内连线结构包含多个水平单元。第一垂直单元物理性连接各水平单元的一上表面。第二垂直单元物理性连接各水平单元的一下表面,且第一垂直单元与第二垂直单元错位。本发明又提供一种电连接装置,其特征在于包含一第一垂直单元以及一第二垂直单元。第一垂直单元物理性连接一水平单元的一上表面。第二垂直单元物理性连接水平单元的一下表面,且第一垂直单元与第二垂直单元错位,施加电压时在第二垂直单元烧断之前第一垂直单元或水平单元先烧断。
技术领域
本发明涉及一种电连接装置,尤其是涉及一种连接金属内连线结构的电连接装置。
背景技术
静电放电(Electrostatic Discharge,ESD)是造成大多数的电子元件或电子系统受到过度电性应力(Electrical Overstress,EOS)破坏的主要因素。这种破坏会导致半导体元件以及电脑系统等,形成一种永久性的毁坏,因而影响集成电路(IntegratedCircuits,ICs)的电路功能,而使得电子产品工作不正常。静电放电破坏的产生,多是由于人为因素所形成,但又很难避免。电子元件或系统在制造、生产、组装、测试、存放、搬运等的过程中,静电会累积在人体、仪器、储放设备等之中,甚至在电子元件本身也会累积静电,而人们在不知情的情况下,使这些物体相互接触,因而形成了一放电路径,使得电子元件或系统遭到静电放电的肆虐。
因此,除了加强对静电累积的控制之外,必须在电子产品中加入具有防患静电放电破坏的装置。
发明内容
本发明提出一种电连接装置,通过设置电连接装置的局部最大电压乘载量,以限制电连接装置的融断位置,因而能保护电路正常运作,达到延长整体电路装置寿命的效果。
本发明提供一种电连接装置,其特征在于包含一金属内连线结构、一第一垂直单元以及一第二垂直单元。金属内连线结构包含多个水平单元。第一垂直单元物理性连接各水平单元的一上表面。第二垂直单元物理性连接各水平单元的一下表面,且第一垂直单元与第二垂直单元错位。
本发明提供一种电连接装置,其特征在于包含一第一垂直单元以及一第二垂直单元。第一垂直单元物理性连接一水平单元的一上表面。第二垂直单元物理性连接水平单元的一下表面,且第一垂直单元与第二垂直单元错位,其中施加电压时,在第二垂直单元烧断之前第一垂直单元或水平单元先烧断。
基于上述,本发明提出一种电连接装置,其具有一第一垂直单元连接一水平单元的一上表面,且一第二垂直单元连接水平单元的一下表面。当施加电压大于特定电压时,水平单元或其上方的第一垂直单元较水平单元下方的第二垂直单元更易烧断,而能在第二垂直单元烧断前先形成断路,以能避免因水平单元下方的第二垂直单元融断而造成整体电路装置永久损坏,进而延长装置寿命。
附图说明
图1为本发明一优选实施例中电连接装置的剖面示意图;
图2为本发明一优选实施例中静电防护元件的剖面示意图;
图3为本发明另一优选实施例中电连接装置的剖面示意图;
图4为本发明另一优选实施例中电连接装置的剖面示意图;
图5为本发明一优选实施例中电连接装置的俯视示意图。
主要元件符号说明
5:绝缘结构
10:基底
11:重掺杂阱
13、14:阱
20:电极
30:源极区
40:掺杂区
100、200:电连接装置
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