[发明专利]一种光电探测器件及其制备方法、触控基板及显示面板有效
申请号: | 201710407754.2 | 申请日: | 2017-06-02 |
公开(公告)号: | CN107240611B | 公开(公告)日: | 2019-11-12 |
发明(设计)人: | 卜倩倩;任庆荣;孙建明 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216;H01L31/105;H01L31/18;H01L27/146 |
代理公司: | 北京金信知识产权代理有限公司 11225 | 代理人: | 黄威;邓玉婷 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光电 探测 器件 及其 制备 方法 触控基板 显示 面板 | ||
1.一种光电探测器件,其特征在于,包括:
基板;
多晶硅层,形成于所述基板上,所述多晶硅层中形成有第一掺杂区和第二掺杂区;
透明的导电膜,至少覆盖所述多晶硅层上所述第一掺杂区处;
金属电极,布置于所述多晶硅层上所述第二掺杂区处,
其中,所述导电膜、金属电极和所述多晶硅层构成PIN器件;
所述金属电极与透明导电膜形成为叉指电极。
2.根据权利要求1所述的光电探测器件,其特征在于,所述导电膜还覆盖所述多晶硅层上第一掺杂区和第二掺杂区之间的区域。
3.根据权利要求1所述的光电探测器件,其特征在于,所述多晶硅层上除所述第二掺杂区之外的区域还布置有减反膜层。
4.一种触控基板,其特征在于,包括:
根据权利要求1-3中任一项所述的光电探测器件;以及
TFT器件,其源极/漏极金属连接至所述金属电极,所述TFT器件配置为读取PIN器件输出的光电探测信号。
5.一种显示面板,其特征在于,包括如权利要求4所述的触控基板。
6.一种光电探测器件的制备方法,包括:
制备基板;
在基板上形成多晶硅层;
在所述多晶硅层的第一区域形成第一掺杂区,在所述多晶硅层的第二区域形成第二掺杂区;
在所述多晶硅层上至少第一掺杂区处形成透明的导电膜;
在所述多晶硅层上第二掺杂区处形成金属电极,
其中,所述导电膜、金属电极和所述多晶硅层构成PIN器件;
所述金属电极与透明导电膜形成为叉指电极。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在基板上布置多晶硅层包括:
在所述基板上形成非晶硅层;
对所述非晶硅层进行准分子激光退火形成所述多晶硅层。
8.根据权利要求6或7所述的方法,其特征在于,形成第一掺杂区和第二掺杂区包括:
制备第一掩膜和第二掩膜,使所述第一掩膜和第二掩膜各包括基部和分别从基部延伸预定长度的多个相互平行的齿部;
使用第一掩模在所述第一区域内注入第一离子以形成所述第一掺杂区;
使用第二掩模在所述第二区域内注入第二离子以形成所述第二掺杂区。
9.根据权利要求6或7所述的方法,其特征在于,还包括:
在所述多晶硅层上除所述第二掺杂区之外的区域形成减反膜层。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的