[发明专利]一种氧化镓单晶闪烁体的制备方法有效

专利信息
申请号: 201710311112.2 申请日: 2017-05-05
公开(公告)号: CN107177885B 公开(公告)日: 2019-10-18
发明(设计)人: 唐慧丽;刘波;徐军;罗平;何诺天;李秋;郭超 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: C30B29/16 分类号: C30B29/16;C30B15/14;C30B15/10
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 林君如
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 氧化 镓单晶 闪烁 制备 方法
【说明书】:

本发明涉及一种氧化镓单晶闪烁体的制备方法,其为中高压导模法,具体包括以下步骤:(1)取β‑Ga2O3粉末等静压压制成型,烧结,再放入导模炉铂铑合金坩埚内,同时,取β‑Ga2O3籽晶放入籽晶夹具内;(2)导模炉内抽真空后,通入高纯空气至7~12bar,缓慢感应加热铂铑合金发热装置至原料完全熔化,恒温;(3)继续升温,下降籽晶并进行烤籽晶,然后将籽晶充分接触模具刃口处熔体,依次开始高温引晶、缩颈、放肩生长、等径生长;(4)晶体生长结束后,脱模,冷却,即得到目的产物氧化镓单晶闪烁体。与现有技术相比,本发明消除了氧化镓晶体中的多晶、挛晶、开裂、氧空位缺陷,有效抑制了慢衰减成分的发光,能够获得高光输出、快衰减氧化镓单晶闪烁体等。

技术领域

本发明涉及核辐射探测材料制备领域,尤其是涉及一种氧化镓单晶闪烁体的制备方法。

背景技术

核辐射探测在高能物理实验、核物理实验、核医学成像、宇宙线探测、同步辐射应用、武器研究、反恐安检、核应急处置等方面具有重要作用,其中包含了诸多涉及国家安全和大科学装置的重大需求。核辐射探测包括对各种带电粒子(如电子、质子、α粒子、裂变碎片)、中性粒子(如中子)和高能光子(如X射线和γ射线)进行时间分辨、能量分辨、空间分辨和粒子甄别测量。在众多的核辐射探测装置中闪烁探测器由于具有效率高、灵敏体积大等优点成为使用最广泛的探测方法之一。

闪烁探测器的基本原理是由核辐射与闪烁体相互作用,闪烁体吸收了辐射粒子的能量后产生可见光-近紫外光发射(称作闪烁发光),闪烁发光被光电倍增管等光电器件收集并转换成电信号,由电子学系统记录,便可实现对辐射的探测。闪烁发光过程包括辐射粒子能量转换、次级电子激发、电子热化、发光中心激发和光发射,整个闪烁过程包含了辐射粒子的信息,因此对闪烁光的反演即可实现对辐射的认知。

快的时间分辨对于探测系统非常重要,例如在核医学探测ToF-PET系统中,为了获得高的空间分辨率图像,需要探测系统达到百皮秒的时间分辨率,这就要求闪烁体具有快的衰减时间。商业化成熟的无机快衰减闪烁体包括掺杂Ce3+的LYSO闪烁体,其衰减时间约为40ns,不能很好地满足对时间分辨率的更高要求(Chewpraditkul W,Swiderski L,Moszynski M,et al.Scintillation properties of LuAG:Ce,YAG:Ce and LYSO:Cecrystals for gamma-ray detection.IEEE Transactions on Nuclear Science,2009,56(6):3800-3805.)。BaF2闪烁体虽然具有0.8ns的快衰减时间,但所对应的光谱位于紫外区域220nm,其光产额很低约为BGO的10%,另外其光电探测器在该波段的探测效率低下,实际探测效率更低(Laval M,Moszyński M,Allemand R,et al.Barium fluoride—Inorganicscintillator for subnanosecond timing.Nuclear Instruments and Methods inPhysics Research,1983,206(1-2):169-176.)。

因此发展具有较高效率的快衰减闪烁体具有重要意义。β-氧化镓(β-Ga2O3)属于超宽禁带半导体材料,在高能射线激发下,会产生近紫外的快衰减发光,其衰减时间的快成分可以达到5ns左右,闪烁光产额与BGO闪烁体处于一个数量级。氧化镓是个基础性能非常优异的高光产额快闪烁体。然而氧化镓晶体中仍然可能存在大量有害缺陷,这些有害缺陷会导致闪烁快成分的完全猝灭,并导致慢成分的产生,在探测系统上无法实现快时间分辨的性能要求。氧化镓单晶可以采用熔体法晶体生长技术,公布号为CN 105008597A的专利申请公开了一种氧化镓单晶基板的制造方法,利用该方法可以获得高阻半导体氧化镓晶体材料,但该方法制备出的材料并没有足够的快衰减闪烁发光,无法成为有效的快衰减闪烁体。

发明内容

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于同济大学,未经同济大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710311112.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top