[发明专利]一种同基质的“闪烁体-半导体-闪烁体”复合X射线探测器

权利要求书

1.一种用于X射线检测的同基质的“闪烁体-半导体-闪烁体”复合探测器，其特征在于：

复合探测器包括前闪烁体、半导体光电导探测器、后闪烁体；所述前闪烁体、半导体光电导探测器、后闪烁体为一种同基质材料，三者组成类似三明治结构，通过原子间吸引力结合，不需要耦合剂；

所述前闪烁体、后闪烁体化学成分相同，厚度不同，前闪烁体较薄，后闪烁体较厚，通过对基质掺杂，掺杂度为0.1-5％获得；

所述半导体光电导探测器包括基质、电极和引线；

所述复合探测器可以通过通用薄膜生长技术获得，生长过程中只需要调节掺杂浓度即可；

所述基质为Zn0、ZnS。

2.根据权利要求1所述的一种用于X射线检测的同基质的“闪烁体-半导体-闪烁体”复合探测器，其特征在于：一个复合探测器就是一个点探测器，点探测器只有一个探测点，可以探测局部区域的X射线强度。

3.根据权利要求2所述的一种用于X射线检测的同基质的“闪烁体-半导体-闪烁体”复合探测器，其特征在于：将多个探测点排列成一条线，构成用于X射线检测的线阵探测器，可以获得某时刻直线位置X射线强度曲线，被检测物体在X射线光源和线阵探测器之间移动，通过把不同时刻强度曲线组合，形成二维图像，即为被检测物体的完整透射图像。

4.根据权利要求3所述的一种用于X射线检测的同基质的“闪烁体-半导体-闪烁体”复合探测器，其特征在于：是将多个复合探测器构成的线探测器，排成一个面，构成用于X射线检测的面阵探测器，可以获得某时刻该平面位置X射线强度曲线，即为被检测物体的完整透射图像。

5.根据权利要求1、2、3、4任何一项所述的一种用于X射线检测的同基质的“闪烁体-半导体-闪烁体”复合探测器，其特征在于：为提高X射线探测效率，可以将多个复合探测器重叠布置，形成多层的探测点，形成线阵探测器，形成面阵探测器；每一时刻可以获得多个点、线、面强度信号，可以分别进行叠加处理。

6.根据权利要求5所述的一种用于X射线检测的同基质的“闪烁体-半导体-闪烁体”复合探测器，其特征在于：在重叠布置时复合探测器时，可以在每层之间加入过滤片，用于过滤掉特点波长范围的X射线，每一时刻可以获得多个点、线、面强度信号，可以分别进行叠加或扣除处理，通过多能量信号分析，除了获得被检测物体的形状信息，还可以获得其成分信息，方便特定物体或危险物品的识别。