[发明专利]一种测量含硅或锆元素的物质中磷元素荧光吸收谱的方法及系统

权利要求书

1.一种测量含硅或锆元素的物质中磷元素荧光吸收谱的方法，其步骤为：

1)选取一含硅或锆元素的样品；根据布拉格定律、磷元素的Kα发射线的波长λ和选取的衍射单元确定出该样品与衍射单元、探测器之间的位置；其中，该样品、衍射单元以及探测器探头处于真空环境；该衍射单元为一Johansson型晶体；该样品、Johansson型晶体和探测器探头位于同一圆上，该圆半径为Johansson型晶体表面的曲率半径，样品到Johansson型晶体以及Johansson型晶体到探测器的距离相同；该衍射单元为一曲率半径为100mm的Johansson型Ge(111)晶体；

2)将X射线入射到该样品上，该衍射单元将该样品发出的满足布拉格定律的荧光衍射到该探测器。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，依据布拉格定律2dsinθ＝mλ确定出该样品与衍射单元、探测器之间的位置；其中，d为Johansson型晶体的晶格间距，θ为X射线与Johansson型晶体表面之间的夹角，m为衍射级次。

3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，该样品为土壤或用于吸附污水中磷的吸附剂。

4.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，将X射线聚焦垂直入射到该样品上。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，通过一毛细管聚焦装置将X射线聚焦垂直入射到该样品上。

6.一种测量含硅或锆元素的物质中磷元素荧光吸收谱的系统，其特征在于，包括一含硅或锆元素的样品，衍射单元以及探测器；其中，根据布拉格定律、磷元素的Kα发射线的波长λ和选取的衍射单元确定出该样品与衍射单元、探测器之间的位置；该样品、衍射单元以及探测器探头处于真空环境；该衍射单元用于将该样品被激发出的满足布拉格定律的荧光衍射到该探测器；该衍射单元为一Johansson型晶体；该样品、Johansson型晶体和探测器探头位于同一圆上，该圆半径为Johansson型晶体表面的曲率半径，样品到Johansson型晶体以及Johansson型晶体到探测器的距离相同；该衍射单元为一曲率半径为100mm的Johansson型Ge(111)晶体。

7.如权利要求6所述的系统，其特征在于，还包括一毛细管聚焦装置，该毛细管聚焦装置用于将X射线聚焦垂直入射到该样品上。