[发明专利]光纤探头、光纤测量装置以及间距控制系统

说明书

本发明提供一种光纤探头、光纤测量装置以及间距控制系统。具备：探头主体(21)；存放于探头主体(21)的内部空间(S)且前端部配置在成为探头主体(21)的外表面的被检测面侧(P1)的光纤(22)；和位置限制构件(23)，光纤(22)具有前端侧的细径部(22a)和后端侧的粗径部(22b)，探头主体(21)具有：在内部空间(S)中设置于被检测面(P1)的相反侧的底面(P2)；和将被检测面(P1)和底面(P2)之间连通的贯通孔(31d)，细径部(22a)在贯通孔(31d)插通，粗径部(22b)使前端部与底面(P2)抵接，以挠曲的状态配置在内部空间(S)，位置限制构件(23)与粗径部(22b)的后端部抵接设置，以使粗径部(22b)挠曲的状态限制光纤(22)的位置。

技术领域

本发明涉及利用光纤的探头即光纤探头、光纤测量装置以及间距控制系统。

背景技术

过去，作为光纤探头，已知6×1纤构成的反射探头(例如参考专利文献1)。该反射探头具有中心纤和6根同轴纤。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：JP特开2010-8409号公报

发明内容

发明要解决的课题

然而，反射探头等光纤探头例如有时会设置于蒸汽涡轮机或燃气涡轮机等涡轮机中。在该情况下，光纤探头暴露在高温、高压环境下。光纤探头若在严酷的外部环境下使用，光纤就会从被检测面沉陷，另外用于固定光纤的陶瓷制的密封件的一部分会有缺损的可能性。如此，若光纤探头在严酷的外部环境下使用，光纤的位置或形状就会变化，利用光纤探头的检测精度有可能降低。

因此，本发明课题在于，提供能抑制以外部环境为要因的光纤的变化并能抑制检测精度的降低的光纤探头、光纤测量装置以及间距控制系统。

用于解决课题的手段

本发明的光纤探头的特征在于，具备：探头主体，具有设置于外表面的被检测面、和设置于内部的内部空间；光纤，存放于所述内部空间，前端部配置于所述探头主体的所述被检测面侧；和位置限制构件，安装于所述探头主体，所述光纤在前端侧具有直径细的细径部，在所述细径部的后端侧具有直径粗的粗径部，所述探头主体具有在所述内部空间中设置于所述被检测面的相反侧的底面、和将所述被检测面与所述底面之间连通的贯通孔，所述细径部在所述贯通孔插通，所述粗径部使前端部与所述底面抵接，以挠曲的状态配置在所述内部空间，所述位置限制构件与所述粗径部的后端部抵接设置，以使所述粗径部挠曲的状态限制所述光纤的位置。

根据该构成，通过使光纤的粗径部挠曲，能将粗径部推顶到内部空间的底面侧。因此，即使是外部环境成为高温、高压环境的情况，也能抑制光纤的细径部从探头主体的被检测面沉陷。另外，由于能省略用于将光纤固定在探头主体的密封件，因此不会出现密封件的缺损。因而，能抑制以外部环境为要因的光纤的变化，因此能抑制检测精度的降低。

本发明的其他光纤探头的特征在于，具备：探头主体，具有设置于外表面的被检测面和设置于内部的内部空间；光纤，存放于所述内部空间，前端部配置于所述探头主体的所述被检测面侧；位置限制构件，安装于所述探头主体；和弹性构件，将所述光纤推压到所述被检测面侧，所述光纤在前端侧具有直径细的细径部，在所述细径部的后端侧具有直径粗的粗径部，所述探头主体具有在所述内部空间中设置于所述被检测面的相反侧的底面、和将所述被检测面与所述底面之间连通的贯通孔，所述细径部在所述贯通孔插通，所述粗径部以使前端部与所述底面抵接的状态配置，所述位置限制构件相对于所述粗径部的后端部空开间隙而设置，所述弹性构件设置在所述粗径部的后端部与所述位置限制构件的所述间隙。