[发明专利]光纤探头、光纤测量装置以及间距控制系统

权利要求书

1.一种暴露在高温高压环境下的光纤探头，其特征在于，具备：

探头主体，具有在外表面设置被检测面的第1底板部、与该第1底板部对置的第2底板部、和设置于内部的内部空间；

光纤，具有成为中心部的纤芯、和设置于所述纤芯的周围的包层，该光纤存放于所述内部空间，前端部配置于所述探头主体的所述第1底板部侧；和

位置限制构件，将所述内部空间区分成所述第1底板部侧的空间和所述第2底板部侧的空间地安装于所述探头主体，

所述光纤在第1底板部侧的空间中具有第1细径部、第2细径部、和在所述第1细径部和所述第2细径部之间与所述第1细径部以及所述第2细径部分别接连的粗径部，所述粗径部的所述纤芯与所述第1细径部以及所述第2细径部的所述纤芯直径相同，所述粗径部的所述包层的外径比所述第1细径部以及所述第2细径部的所述包层的外径粗，

所述探头主体的所述第1底板部具有所述内部空间内的内面、和将所述被检测面与所述内面之间连通的贯通孔，

所述第1细径部在所述贯通孔插通，

所述粗径部使所述第1细径部侧的所述包层的第1端面与所述第1底板部的所述内面抵接，以挠曲的状态配置在所述第1底板部侧的空间，

所述位置限制构件与所述第1端面的相反侧的所述粗径部的所述包层的第2端面抵接设置，通过使所述粗径部挠曲而将所述第1端面推顶到所述第1底板部的所述内面，由此限制所述光纤的位置。

2.一种暴露在高温高压环境下的光纤探头，其特征在于，具备：

探头主体，具有在外表面设置被检测面的第1底板部、与该第1底板部对置的第2底板部、和设置于内部的内部空间；

光纤，具有成为中心部的纤芯、和设置于所述纤芯的周围的包层，该光纤存放于所述内部空间，前端部配置于所述探头主体的所述第1底板部侧；

位置限制构件，安装于所述探头主体；和

弹性构件，将所述光纤推压到所述第1底板部侧，

所述光纤具有第1细径部、第2细径部、和在所述第1细径部和所述第2细径部之间与所述第1细径部以及所述第2细径部分别接连的粗径部，所述粗径部的所述纤芯与所述第1细径部以及所述第2细径部的所述纤芯直径相同，所述粗径部的所述包层的外径比所述第1细径部以及所述第2细径部的所述包层的外径粗，

所述探头主体的所述第1底板部具有所述内部空间内的内面、和将所述被检测面与所述内面之间连通的贯通孔，

所述第1细径部在所述贯通孔插通，

所述粗径部以使所述第1细径部侧的所述包层的第1端面与所述第1底板部的所述内面抵接的状态配置，

所述位置限制构件相对于所述第1端面的相反侧的所述粗径部的所述包层的第2端面空开间隙而设置，

所述弹性构件设置在所述第2端面与所述位置限制构件的所述间隙，将所述第1端面推顶到所述第1底板部的所述内面。

3.根据权利要求1或2所述的光纤探头，其特征在于，

所述光纤探头还具备：

在所述贯通孔的所述被检测面侧插通的光学窗口。

4.根据权利要求3所述的光纤探头，其特征在于，

所述光学窗口成为在轴向上长的圆柱形状，所述轴向成为所述贯通孔的插通方向，

所述光学窗口的外周面被镀覆加工。

5.一种光纤测量装置，其特征在于，具备：

权利要求1或2所述的光纤探头；

发光部，向所述光纤探头出射光；

受光部，接受从所述光纤探头入射的光；和

测量控制部，对去往所述发光部的发光信号和来自所述受光部的受光信号进行信号处理。

6.根据权利要求5所述的光纤测量装置，其特征在于，

所述光纤具有用于使光从所述被检测面出射的多个送光用纤、和与多个所述送光用纤分别建立对应并用于接受入射到所述被检测面的光的多个受光用纤，

所述发光部使从多个所述送光用纤出射的光的色彩不同，

所述受光部具有分选多个不同的色彩的光的多个滤光器。

7.一种间距控制系统，对具备罩壳和相对于所述罩壳空开给定的间距而设置的动叶的涡轮机的所述间距进行调整，该间距控制系统的特征在于，具备：

权利要求5所述的光纤测量装置，基于所述发光信号和所述受光信号测量所述间距；和

涡轮机控制部，基于由所述光纤测量装置测量的所述间距执行用于调整所述间距的间距调整控制。