[发明专利]p型杂质扩散组合物、使用其的半导体元件的制造方法以及太阳能电池及其制造方法有效
申请号: | 201680010408.4 | 申请日: | 2016-02-10 |
公开(公告)号: | CN107210201B | 公开(公告)日: | 2020-07-21 |
发明(设计)人: | 池上由洋;村濑清一郎;稻叶智雄 | 申请(专利权)人: | 东丽株式会社 |
主分类号: | H01L21/225 | 分类号: | H01L21/225;H01L31/18 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 杨宏军;李国卿 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 杂质 扩散 组合 使用 半导体 元件 制造 方法 以及 太阳能电池 及其 | ||
1.p型杂质扩散组合物,其包含(A)第13族元素化合物、(B)含羟基的高分子及(C)有机溶剂,所述(C)有机溶剂含有(C1)环状酯系溶剂,
所述(B)含羟基的高分子含有(B1)聚乙烯醇树脂及(B2)聚环氧乙烷,以质量比率计,所述(B1)聚乙烯醇树脂与所述(B2)聚环氧乙烷的含有比率为(B1):(B2)=60:40~30:70,
所述(C)有机溶剂中的(C1)环状酯系溶剂的含量为70~100质量%,
(C1)环状酯系溶剂为γ-丁内酯。
2.如权利要求1所述的杂质扩散组合物,所述杂质扩散组合物的粘度为3000~15000mPa·s,触变指数(2rpm/20rpm)为1.1~1.7。
3.如权利要求1或2所述的p型杂质扩散组合物,其中,(A)第13族元素化合物含有选自氧化硼或硼酸中的至少一者。
4.半导体元件的制造方法,其包括下述工序:
将权利要求1~3中任一项所述的p型杂质扩散组合物涂布在半导体衬底上,从而形成p型杂质扩散组合物膜的工序;和
使p型杂质从所述p型杂质扩散组合物膜扩散至所述半导体衬底,从而在所述半导体衬底中形成p型杂质扩散层的工序。
5.半导体元件的制造方法,其包括下述工序:
将权利要求1~3中任一项所述的p型杂质扩散组合物涂布在半导体衬底的一部分上,从而形成p型杂质扩散组合物膜的工序;和
在含有p型杂质的气氛下同时对所述p型杂质扩散组合物膜进行加热,由此使p型杂质扩散至所述半导体衬底,从而在所述半导体衬底中形成高浓度p型杂质扩散层区域和低浓度p型杂质扩散层区域的工序。
6.半导体元件的制造方法,其包括下述工序:
将权利要求1~3中任一项所述的p型杂质扩散组合物涂布在半导体衬底上,从而形成p型杂质扩散组合物膜的工序;
将n型杂质扩散组合物涂布在所述半导体衬底上,从而形成n型杂质扩散组合物膜的工序;和
同时对所述p型杂质扩散组合物膜和所述n型杂质扩散组合物膜进行加热,由此在所述半导体衬底中形成p型杂质扩散层和n型杂质扩散层的工序。
7.半导体元件的制造方法,其包括下述工序:
将权利要求1~3中任一项所述的p型杂质扩散组合物涂布在半导体衬底的一面上,从而形成p型杂质扩散组合物膜的工序;和
使p型杂质从所述p型杂质扩散组合物扩散至所述半导体衬底从而在所述半导体衬底中形成p型杂质扩散层,然后在不除去p型杂质扩散组合物膜的情况下使n型杂质扩散成分扩散至所述半导体衬底的另一面的工序。
8.如权利要求4~7中任一项所述的半导体元件的制造方法,其中,将p型杂质扩散组合物涂布在半导体衬底上的方法为丝网印刷。
9.太阳能电池,其含有利用权利要求4~8中任一项所述的制造方法得到的半导体元件。
10.太阳能电池的制造方法,其包括权利要求4~8中任一项所述的制造方法。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东丽株式会社,未经东丽株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201680010408.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种隐形防伪连接线
- 下一篇:变压器磁芯、网络变压器
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造