[发明专利]基于三维偏置印录存储器的三维封装在审
申请号: | 201610927271.0 | 申请日: | 2016-10-24 |
公开(公告)号: | CN107978516A | 公开(公告)日: | 2018-05-01 |
发明(设计)人: | 张国飙 | 申请(专利权)人: | 杭州海存信息技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310051 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 三维 偏置 存储器 封装 | ||
1.一种基于三维偏置印录存储器(3D-oP)的三维封装(3D2-oP),含有相互堆叠的第一和第二3D-oP芯片,其特征在于:
第一3D-oP芯片含有第一和第二数据录入膜,且该第二数据录入膜位于该第一数据录入膜上方,该第一数据录入膜存储第一数码阵列,该第二数据录入膜存储第二数码阵列;
第二3D-oP芯片含有第三和第四数据录入膜,且该第四数据录入膜位于该第三数据录入膜上方,该第三数据录入膜存储第三数码阵列,该第四数据录入膜存储第四数码阵列;
在同一批次的3D2-oP封装中,所有3D2-oP封装均含有同样一组数码阵列集合;至少两个3D2-oP封装的数码阵列序列不同。
2.根据权利要求1所述的三维封装,其特征还在于:该第一3D-oP芯片含有第一和第二存储层,且该第二存储层位于该第一存储层上方,该第一存储层含有该第一数据录入膜,该第二存储层含有该第二数据录入膜。
3.根据权利要求2所述的三维封装,其特征还在于含有:第一可设置输入电路,该第一可设置输出电路根据该第一3D-oP芯片中数码阵列序列设置该第一3D-oP芯片的输入。
4.根据权利要求1所述的三维封装,其特征还在于:该第二3D-oP芯片含有第三和第四存储层,且该第四存储层位于该第三存储层上方,该第三存储层含有该第三数据录入膜,该第四存储层含有该第四数据录入膜。
5.根据权利要求4所述的三维封装,其特征还在于含有:第二可设置输入电路,该第二可设置输出电路根据该第二3D-oP芯片中数码阵列序列设置该第二3D-oP芯片的输入。
6.根据权利要求1所述的三维封装,其特征还在于:该第一3D-oP芯片含有第一存储层,该第一存储层含有该第一和第二数据录入膜。
7.根据权利要求6所述的三维封装,其特征还在于含有:第一可设置输出电路,该第一可设置输出电路根据该第一3D-oP芯片中数码阵列序列设置该第一3D-oP芯片的输出。
8.根据权利要求1所述的三维封装,其特征还在于:该第二3D-oP芯片含有第二存储层,该第二存储层含有该第三和第四数据录入膜。
9.根据权利要求8所述的三维封装,其特征还在于含有:第二可设置输出电路,该第二可设置输出电路根据该第二3D-oP芯片中数码阵列序列设置该第二3D-oP芯片的输出。
10.根据权利要求1所述的三维封装,其特征还在于:所述数据录入膜中的数据图形由光刻法(photo-lithography)或压印法(imprint-lithography)形成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造