[发明专利]一种具有生长过程可调节翘曲的发光二极管外延生长方法有效
申请号: | 201610425301.8 | 申请日: | 2016-06-16 |
公开(公告)号: | CN105977352B | 公开(公告)日: | 2018-03-20 |
发明(设计)人: | 林志伟;陈凯轩;张永;卓祥景;姜伟;汪洋;童吉楚;方天足 | 申请(专利权)人: | 厦门乾照光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/12;H01L33/20 |
代理公司: | 厦门市新华专利商标代理有限公司35203 | 代理人: | 廖吉保,唐绍烈 |
地址: | 361000 福建省厦门市*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 具有 生长 过程 调节 发光二极管 外延 方法 | ||
1.一种具有生长过程可调节翘曲的发光二极管外延生长方法,其特征在于:包括以下步骤:
一,采用MOCVD在530-570℃,500-600托,生长速率低于2µm/h,转速低于500r/h的外延条件下在衬底上表面生长缓冲层;
二,外延生长温度至升高至1000℃以上,100-500托,生长速率高于3 µm/h,转速高于700r/h的条件在缓冲层上生长非故意掺杂层;
三,非故意掺杂层上生长复合调节层的各层结构,复合调节层为GaInN/GaN/AlGaN、AlGaN/GaN/GaInN中的一种,在外延片生长过程中,根据非故意掺杂层的翘曲值,调整GaInN层中In组分、厚度,以及调整AlGaN层中Al组分、厚度,使生长MQW时趋于平坦;
(1)非故意掺杂层的翘曲值高于-60µm为生长MQW时偏凸,通过GaInN层中In组分提高或者厚度增加,且降低AlGaN层的Al组分及其减薄厚度,外延片的应力会变为更倾向于凹状翘曲,生长MQW时趋于平坦;(2)非故意掺杂层的翘曲值低于-110µm为生长MQW时偏凹状,通过AlGaN层中Al组分提高或者厚度增加,且降低GaInN层中In组分提高及减薄厚度,外延片的应力会变为更倾向于凸状翘曲,生长MQW时趋于平坦;(3)非故意掺杂层的翘曲值居于-110µm至-60µm时为生长MQW时趋于平坦,GaInN、AlGaN层中In、Al组分降低且减薄厚度;
四,在复合调节层上生长第一型导电层;
五,外延生长温度降低至800℃以下,压强低于300托,转速高于800r/h的条件在第一型导电层上生长有源层;
六,外延生长温度升至高于900℃在有源层上依次生长电子阻挡层、第二型导电层和欧姆接触层。
2.如权利要求1所述的一种具有生长过程可调节翘曲的发光二极管外延生长方法,其特征在于:复合调节层外延生长温度的变化趋势:生长AlGaN材料温度低于1000℃;生长GaN材料温度高于1000℃;生长GaInN材料温度低于1000℃。
3.如权利要求1所述的一种具有生长过程可调节翘曲的发光二极管外延生长方法,其特征在于:复合调节层外延生长压强的变化趋势:生长AlGaN材料压强低于150托;生长GaN材料压强范围150-300托;生长GaInN材料压强低于150托。
4.如权利要求1所述的一种具有生长过程可调节翘曲的发光二极管外延生长方法,其特征在于:复合调节层外延生长大盘转速的变化趋势:生长AlGaN材料转速低于800r/h;生长GaN材料转速高于800r/h;生长GaInN材料转速低于800r/h。
5.如权利要求1所述的一种具有生长过程可调节翘曲的发光二极管外延生长方法,其特征在于:复合调节层外延生长速率的变化趋势:生长AlGaN材料生长速率低于2µm/h;生长GaN材料生长速率高于4µm/h;生长GaInN材料生长速率低于1µm/h。
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