[发明专利]深度信息测量方法及装置

权利要求书

1.一种深度信息测量方法，其特征在于，适用于具有光投射装置、光传感装置及影像撷取装置的电子装置，该方法包括下列步骤：

利用该光投射装置投射具有一扫描图像的结构光以扫描至少一物体，并利用该光传感装置检测所述物体的反射光，以根据该反射光的反射图像的形变计算各所述物体的深度信息；

利用该影像撷取装置拍摄包括所述物体的影像，以获取各所述物体的位置信息，并根据该位置信息的变化，找出所述物体中的至少一移动物体；以及

根据所述移动物体所在区域，调整该结构光的该扫描图像、扫描所得数据的处理顺序、扫描区域、扫描频率及扫描解析度中的一种或几种，据以计算各所述移动物体的该深度信息。

2.如权利要求1所述的深度信息测量方法，其特征在于，根据该位置信息的变化，找出所述物体中的移动物体的步骤更包括：

结合各所述物体的该位置信息及该深度信息为三维空间信息；以及

根据该三维空间信息的变化，找出所述移动物体。

3.如权利要求1所述的深度信息测量方法，其特征在于，调整该结构光的该扫描区域、该扫描频率、该扫描解析度、该扫描图像及扫描所得数据的该处理顺序的至少其中之一的步骤包括：

控制该光投射装置增加投射于所述移动物体所在区域的该结构光的该扫描频率或该扫描解析度。

4.如权利要求3所述的深度信息测量方法，其特征在于，调整该结构光的该扫描区域、该扫描频率、该扫描解析度、该扫描图像及扫描所得数据的该处理顺序的至少其中之一的步骤更包括：

控制该光投射装置停止投射该结构光于所述移动物体所在区域以外的其他区域。

5.如权利要求3所述的深度信息测量方法，其特征在于，控制该光投射装置增加投射于所述移动物体所在区域的该结构光的该扫描频率的步骤包括：

针对所述移动物体所在区域额外执行一次扫描，并控制该光投射装置增加该次扫描中投射于所述移动物体所在区域的该结构光的该扫描解析度。

6.如权利要求1所述的深度信息测量方法，其特征在于，调整该结构光的该扫描区域、该扫描频率、该扫描解析度、该扫描图像及扫描所得数据的该处理顺序的至少其中之一的步骤包括：

控制该光投射装置仅投射该结构光于所述移动物体所在区域，并维持所投射该结构光的该扫描频率。

7.如权利要求1所述的深度信息测量方法，其特征在于，调整该结构光的该扫描区域、该扫描频率、该扫描解析度、该扫描图像及扫描所得数据的该处理顺序的至少其中之一，据以计算各所述物体的该深度信息的步骤包括：

优先处理该反射图像中所述移动物体所在区域的数据，以计算所述移动物体的所述深度信息。

8.如权利要求1所述的深度信息测量方法，其特征在于，调整该结构光的该扫描区域、该扫描频率、该扫描解析度、该扫描图像及扫描所得数据的该处理顺序的至少其中之一，据以计算各所述物体的该深度信息的步骤包括：

根据所述移动物体的位置及大小，控制该光投射装置增加所投射该结构光的该扫描解析度；以及

优先处理该反射图像中所述移动物体所在区域的数据，以计算所述移动物体的所述深度信息。

9.如权利要求1所述的深度信息测量方法，其特征在于，调整该结构光的该扫描区域、该扫描频率、该扫描解析度、该扫描图像及扫描所得数据的该处理顺序的至少其中之一的步骤包括：

合并相邻的所述移动物体所在区域，据以调整该结构光的该扫描区域、该扫描频率、该扫描解析度、该扫描图像及扫描所得数据的该处理顺序的至少其中之一。