[发明专利]一种薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板、显示装置有效

专利信息
申请号: 201610327210.0 申请日: 2016-05-17
公开(公告)号: CN105789327B 公开(公告)日: 2019-05-03
发明(设计)人: 何晓龙;薛建设;曹占锋;孙雪菲;张斌 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/336
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 薄膜晶体管 及其 制备 方法 阵列 显示装置
【说明书】:

发明实施例提供一种薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板、显示装置,涉及显示技术领域,能够在保证薄膜晶体管电子迁移率的基础上,降低薄膜晶体管的漏电流。该薄膜晶体管包括源极、漏极以及半导体有源层,半导体有源层划分为非晶硅部和多晶硅部,非晶硅部的至少一部分位于源极和漏极之间;非晶硅部主要由非晶硅构成,多晶硅部主要由多晶硅构成。

技术领域

本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板、显示装置。

背景技术

随着液晶显示技术的发展,对薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT)半导体层的电子迁移率要求要来越高,低温多晶硅薄膜晶体管(Low Temperature Poly-siliconThin Film Transistor,LTPS TFT)应运而生,由于LTPS TFT迁移率高,同时可以在较低温条件(低于600℃)下制备而成,基底选择灵活,制备成本较低等优点,因此已被广泛地应用于包括电脑、手机等电子产品在内的各种电子显示器中。

现有LTPS TFT器件中,当TFT处于关状态时,受TFT自身的寄生电容影响,在漏极耗尽区形成强电场,在该电场的作用下,在漏极一侧难以形成彻底的PN结构,从而在源极和漏极之间存在电子迁移,进而导致漏电流很大,从而使得LTPS TFT器件的性能大大降低。

发明内容

本发明的实施例提供一种薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板、显示装置,能够在保证薄膜晶体管电子迁移率的基础上,降低薄膜晶体管的漏电流。

为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:

本发明实施例一方面提供一种薄膜晶体管,包括源极、漏极以及半导体有源层,所述半导体有源层划分为非晶硅部和多晶硅部,所述非晶硅部的至少一部分位于所述源极和所述漏极之间;其中,所述非晶硅部主要由非晶硅构成,所述多晶硅部主要由多晶硅构成。

进一步的,在所述半导体有源层位于所述源极和所述漏极之间的部分中,中间部分为所述非晶硅部,两侧部分为所述多晶硅部。

进一步的,所述半导体有源层位于所述源极和所述漏极之间的部分中,中间部分为所述多晶硅部,两侧部分为所述非晶硅部。

进一步的,所述非晶硅部仅设置于所述源极和所述漏极之间。

进一步的,沿所述薄膜晶体管沟道宽度方向,所述非晶硅部与所述半导体有源层的宽度相同,在所述半导体有源层位于所述源极和所述漏极之间的部分中,沿所述薄膜晶体管沟道长度方向,所述非晶硅部的长度与所述薄膜晶体管沟道长度比值为5%~20%。

进一步的,所述源极与所述半导体有源层之间,以及所述漏极与所述半导体有源层之间设置有欧姆接触层。

进一步的,所述欧姆接触层主要由非晶硅以及导电离子构成。

本发明实施例另一方面还提供一种阵列基板,包括权利要求上述任一项所述的薄膜晶体管。

本发明实施例又一方面还提供一种显示装置,包括权利要求上述的阵列基板。

本发明实施例再一方面还提供一种薄膜晶体管的制备方法,包括:在衬底基板上形成非晶硅薄膜。对所述非晶硅薄膜的部分进行退火处理以形成半导体有源层,其中,所述非晶硅薄膜上经过退火处理的部分为多晶硅部,所述非晶硅薄膜上未经过退火处理的部分为非晶硅部。在形成有所述多晶硅部和所述非晶硅部的衬底基板上,形成数据金属层。对所述数据金属层进行构图,形成源极和漏极;其中,所述非晶硅部的至少一部分位于所述源极和所述漏极之间。

进一步的,在所述数据金属层之前,还包括:在形成有所述多晶硅部和所述非晶硅部的衬底基板上,在对应所述源极待形成位置以及所述漏极待形成位置,形成欧姆接触层。

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