[发明专利]OLED显示装置及其像素修复方法有效

专利信息
申请号: 201610046820.3 申请日: 2016-01-22
公开(公告)号: CN105679798B 公开(公告)日: 2019-03-29
发明(设计)人: 许名宏 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L27/32 分类号: H01L27/32;H01L21/77
代理公司: 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 代理人: 郭栋梁
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: oled 显示装置 及其 像素 修复 方法
【权利要求书】:

1.一种OLED显示装置修复方法,包括白色子像素亮点修复,其特征在于,所述OLED显示装置包括若干像素形成的像素阵列,每个像素包括红、绿、蓝和白四个子像素,每个子像素中形成有对应的OLED器件,且红、绿和蓝像素中,在各自OLED器件的出光侧分别形成有第一红色滤光片、第一绿色滤光片和第一蓝色滤光片,其特征在于,白色子像素中,在其OLED器件的出光侧形成有第二红色滤光片、第二绿色滤光片和第二蓝色滤光片;

所述第一红色滤光片、第一绿色滤光片和第一蓝色滤光片大小不同,且所述第二红色滤光片、第二绿色滤光片和第二蓝色滤光片分别按第一红色滤光片、第一绿色滤光片和第一蓝色滤光片等比例缩小设计;或

所述第二红色滤光片、第二绿色滤光片和第二蓝色滤光片的大小相同,且小于第一红色滤光片、第一绿色滤光片和第一蓝色滤光片;或

所述第二红色滤光片、第二绿色滤光片和第二蓝色滤光片大小分别与所述第一红色滤光片、第一绿色滤光片和第一蓝色滤光片的大小相同,

所述修复方法还包括红、绿和蓝任一子像素亮点修复,其修复过程包括:

检测亮点缺陷的坐标,将坐标反馈给时序控制电路记录,并以雷射切断该亮点对应的X子像素与其薄膜晶体管的连接,使该子像素成为暗点,X为R、G和B之一;

利用紫外线照射该亮点对应像素的W子像素中除X滤光片对应区域以外的区域,使照射区域的OLED器件劣化而不再发光;

显示时,在RGB灰阶转换为RGBW的过程中,将所述坐标的像素对应的X灰阶根据W子像素中设计的X滤光片的大小乘以预定系数后再写入W灰阶,其余灰阶不做转换。

2.如权利要求1所述的OLED显示装置修复方法,其特征在于,灰阶转换公式如下:

x^gamma×S1=w^gamma×S2

其中,^表示乘方运算,x为原RGB信号中X子像素对应的灰阶大小,w为转换后的RGBW信号中W子像素对应的灰阶大小,S1为X子像素面积大小,S2为W子像素中X滤光片面积大小,gamma为显示装置灰阶与亮度的关系参数,取值为2~2.4。

3.如权利要求1所述的OLED显示装置修复方法,其特征在于,所述第二红色滤光片、第二绿色滤光片和第二蓝色滤光片的排列方式与所述第一红色滤光片、第一绿色滤光片和第一蓝色滤光片的排列方式一致。

4.如权利要求1所述的OLED显示装置修复方法,其特征在于,第二红色滤光片、第二绿色滤光片和第二蓝色滤光片呈一字型排列或品字形排列。

5.如权利要求1所述的OLED显示装置修复方法,其特征在于,所述第二红色滤光片、第二绿色滤光片和第二蓝色滤光片中相邻两个滤光片之间具有0.1um以上的间距。

6.如权利要求1所述的OLED显示装置修复方法,其特征在于,所述第一红色滤光片、第一绿色滤光片和第一蓝色滤光片中相邻两个滤光片之间具有0.1um以上的间距。

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