[发明专利]一种真空镀膜设备中Zn杂质元素的去除方法有效

专利信息
申请号: 201510341375.9 申请日: 2015-06-19
公开(公告)号: CN105132887B 公开(公告)日: 2017-07-11
发明(设计)人: 马姣民;惠述伟 申请(专利权)人: 广东汉能薄膜太阳能有限公司
主分类号: C23C16/452 分类号: C23C16/452
代理公司: 深圳市千纳专利代理有限公司44218 代理人: 童海霓,刘彦
地址: 517300 *** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 真空镀膜 设备 zn 杂质 元素 去除 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及薄膜太阳能电池技术领域,具体为一种真空镀膜设备中Zn杂质元素的去除方法。

背景技术

太阳能电池膜层质量对太阳能电池性能有关键性影响,高的膜层质量是保证电池性能的必备要素,为了保证高的膜层质量,除了控制各种反应气体的纯度外,还要防止任何的其它污染源。

当今工业上广泛使用的PECVD系统,采用一对平板形状相互平行的电极来激发等离子体,并提供薄膜沉积或蚀刻表面。这两个电极板分别为接地的正极和用来激发等离子体的激发电极(负极)。常规的激发方式为射频(RF)和极高频(VHF),当今工业上非微晶硅等薄膜电池前电极一般采用BZO等作为透明导电材料。沉积非晶硅时,非晶硅膜层覆盖玻璃基底之前,镀有BZO的前板玻璃会有Zn元素在RF的溅射下,很容易被溅射出来,粘附在反应腔上部,并在薄膜的沉积过程过落下来,当Zn元素在反应腔上部积累到一定程度时,会对膜层有明显的影响。针对被溅射出来的Zn元素,用PECVD自带的清洁系统很难清除干净。

现有的PECVD自带的清洁系统,其反应腔清洗技术主要为了清洗残留的Si元素,主要采用NF3和Ar气在高的射频功率下,离化成等离子体对残留Si膜层进行腐蚀。这对Zn元素的清洗作用非常有限,达不到对Zn元素的清洗效果,目前还没有专门针对Zn元素的有效清洗方法。

发明内容

本发明的目的是提供一种真空镀膜设备中Zn杂质元素的去除方法,具有Zn杂质元素去除效果好、操作方便、成本低廉和生产效率高的特点。

本发明可以通过以下技术方案来实现:

本发明公开了一种真空镀膜设备中Zn杂质元素的去除方法,在沉积非微晶硅薄膜电池后再向反应腔中通入氧源气体、氢源气体和碳源气体,其具体步骤包括:

第一步、向反应腔通入氢源气体和氧源气体,将反应腔的温度保持在100~115°C之间,调节射频放电功率密度进行辉光放电对体系进行反应活化,控制气压在1.5~3mbar,使氢源气体、氧源气体与Zn元素反应生成Zn的化合物,控制反应持续50~200秒之间,停止辉光放电,将残余气体抽出真空腔;

第二步、向反应腔通入碳源气体,将反应腔的温度保持在100~115°C之间,调节射频放电功率密度进行辉光放电对体系进行反应活化,继续使碳源气体与Zn元素反应生成Zn的化合物,控制气压在0.5~2mbar,反应持续50~200秒之间,停止辉光放电,将残余气体抽出真空腔;

所述第一步和第二步交替进行。

在进行去除Zn杂质元素操作步骤的第一步和第二步之前先通入NF3和Ar气去除残余Si元素,并彻底排除残余气体。

所述第一步和第二步的射频放电功率密度为10~60mw/cm2

所述氢源气体为H2O气体,所述氧源气体的O2,所述碳源气体为CO2

所述氧源气体的流量为3~5 sccm,所述碳源气体的流量为3~5 sccm。

本发明一种真空镀膜设备中Zn杂质元素的去除方法,具有如下的有益效果:

第一、Zn杂质元素去除效果好,通过氧源气体、氢源气体、碳源气体在辉光条件下使Zn形成Zn化合物,有效去除Zn杂质元素;

第二、操作方便,在对Zn杂质元素的控制过程中,只需要控制氧源气体、氢源气体、碳源气体的气体流量及辉光反应的功率、时间即可对反应过程进行控制,需要调节的参数少,简化操作控制环节;

第三、成本低廉,反应所需要的原料氧源气体、氢源气体、碳源气体来源广泛,节省材料成本,辉光反应时间短,能耗成本低;

第四、生产效率高,充分利用反应腔在去除Si杂质元素的辉光反应的条件,直接在反应腔充入氧源气体、氢源气体、碳源气体即可开启去除过程,反应操作设置在Si杂质元素去除之后,无需转序,有效提升了生产效率。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明的技术方案,下面结合实施例及对本发明产品作进一步详细的说明。

实施例1

本发明公开了一种真空镀膜设备中Zn杂质元素的去除方法,在沉积非微晶硅薄膜电池后再向反应腔中通入氧源气体、氢源气体和碳源气体,在进行去除Zn杂质元素操作步骤的第一步和第二步之前先通入NF3和Ar气去除残余Si元素,并彻底排除残余气体,然后按照以下步骤进行:

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