[发明专利]基于Ⅱ型能带匹配的共振隧穿二极管近红外探测器在审

专利信息
申请号: 201510098628.4 申请日: 2015-03-06
公开(公告)号: CN104659146A 公开(公告)日: 2015-05-27
发明(设计)人: 裴康明;倪海桥;詹锋;董宇;牛智川 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L31/11 分类号: H01L31/11;H01L31/0352
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 能带 匹配 共振 二极管 红外探测器
【权利要求书】:

1.一种基于II型能带匹配的共振隧穿二极管近红外探测器,包括:

一衬底;

一发射极接触层,其制作在衬底上;

一发射区,其制作在发射极接触层上,发射极接触层另一侧形成一台面;

一隔离层,其制作在发射极上;

一双势垒结构,其制作在隔离层上;

一吸收层,其制作在双势垒层结构上;

一集电区,其制作在吸收层上;

一上电极,其制作在集电区上;

一下电极,其制作在发射极接触层另一侧的台面上。

2.如权利要求1所述的基于II型能带匹配的共振隧穿二极管近红外探测器,其中衬底的材料为N+型InP。

3.如权利要求1所述的基于II型能带匹配的共振隧穿二极管近红外探测器,其中发射极接触层的材料为In0.53Ga0.47As,掺杂浓度为n型2×1018-5×1018cm-3,厚度为400-600nm。

4.如权利要求1所述的基于II型能带匹配的共振隧穿二极管近红外探测器,其中发射区的材料为In0.53Ga0.47As,掺杂浓度为n型1×1018-5×1018cm-3,厚度为200-400nm。

5.如权利要求1所述的基于II型能带匹配的共振隧穿二极管近红外探测器,其中隔离层的材料为In0.53Ga0.47As,厚度为5-9nm。

6.如权利要求1所述的基于II型能带匹配的共振隧穿二极管近红外探测器,其中双势垒结构包括一下势垒层、一势阱层和一上势垒层,该下势垒层和上势垒层的材料为AlGaSb或GaAsSb,厚度分别为510ML,该势阱层的材料为In0.53Ga0.47As,厚度为410nm。

7.如权利要求1所述的基于II型能带匹配的共振隧穿二极管近红外探测器,其中吸收层的材料为InGaAs或InGaNAs,厚度为500700nm。

8.如权利要求1所述的基于II型能带匹配的共振隧穿二极管近红外探测器,其中集电区的材料为n型In0.53Ga0.47As,掺杂浓度为n型2×10185×1018cm-3,厚度为80120nm。

9.如权利要求1所述的基于II型能带匹配的共振隧穿二极管近红外探测器,其中上电极和下电极的材料为TiPtAu,该上电极的形状为环形。

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