[发明专利]CMOSMEMS电容式湿度传感器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201510091391.7 申请日: 2015-02-28
公开(公告)号: CN104634832B 公开(公告)日: 2018-01-05
发明(设计)人: 赵成龙 申请(专利权)人: 苏州工业园区纳米产业技术研究院有限公司
主分类号: G01N27/22 分类号: G01N27/22
代理公司: 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙)32257 代理人: 李阳
地址: 215123 江苏省苏州市工业*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: cmos mems 电容 湿度 传感器 及其 制备 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种CMOS MEMS电容式湿度传感器及其制备方法,属于半导体芯片技术。

背景技术

湿度传感器广泛应用于国防航空、气象检测、工业控制、农业生产、医疗设备等多个领域,近年来,湿度传感器发展的一个重要方向是微型化。现有的微型湿度传感器主要有电容式、电阻式、压阻式等类型。电容式湿度传感器因具有功耗小、成本低等优点,已被商用领域普遍应用。利用标准CMOS工艺制造电容式微型湿度传感器具有三方面优点:(1)传感器体积小,一致性好;(2)容易将湿度传感器和检测电路单片集成,有助于提高湿度检测系统的稳定性和抗干扰能力;(3)大批量制造,可以有效降低产品成本。梳齿状电容式结构是常被采用的电容式湿度传感器结构,但由于单对梳齿电极的电容值很小,为了得到较高的灵敏度,往往需要采用很多对梳齿并联的方式,不利于传感器芯片面积的控制和成本的降低,因此,提高梳齿状电容式湿度传感器的灵敏度是亟需解决的问题。另外,湿度传感器响应时间的改善也是研究的热点。

中国专利第CN 101620197 B号公开了一种快速响应的CMOS相对湿度传感器,其由衬底,氧化层,电容电极,湿度敏感介质组成,氧化层设在衬底上,电容电极设在氧化层上,电容电极由压焊块引出,湿度敏感介质设在电容电极之间和电容电极上方,腐蚀衬底及其上方的氧化层,形成空腔,使得电容电极之间的湿度敏感介质的下表面也与空气接触,电容电极为叉指状电极且交错排列,每组叉指状电极的公共端和叉指状电极的自由端均固定于氧化层上,以保证电极的机械强度。该技术采用聚酰亚胺作为湿度敏感介质,将衬底及其上方的氧化层腐蚀形成空腔,电容电极之间的湿度敏感介质的上方和下方均为空气,该传感器具有响应速度快,衬底寄生小等优点。

中国专利申请第CN 103207215 A号公开了一种改进型的基于聚酰亚胺的湿度传感器,其在电极板之间涂覆聚酰亚胺薄膜作为湿度敏感材料,然后在聚酰亚胺层中利用光刻技术制作空腔。该技术提高了传感器与周围环境的接触面积,具有响应时间快的特点。

中国专利第CN 102590291 B号公开了一种改进型湿度传感器的制作方法,其在电极板之间涂覆的聚酰亚胺薄膜作为湿度敏感材料,后在聚酰亚胺层中利用光刻技术制作空腔,空腔底部有由腐蚀方法制作的硅通孔。该传感器提高了传感器与周围环境的接触面积,同时便于气体通过传感器,具有响应时间短的特点。

虽得益于加工工艺和标准CMOS工艺完全兼容,梳齿状电容式湿度传感器是目前商用领域最常用的结构,而侧壁电容的感应模式决定了单对梳齿电容的灵敏度极低,为了得到理想的灵敏度,往往需要设计大量的梳齿并联,这样会增大芯片面积,进而提高器件成本。中国专利CN 101620197 B中涉及的一种快速响应的CMOS相对湿度传感器即有上述的典型缺点。另外,中国专利申请第CN 103207215 A号和中国专利CN 102590291 B号中涉及的一种改进型的基于聚酰亚胺的湿度传感器,在聚酰亚胺层中利用光刻技术制作空腔,提高了传感器与周围环境的接触面积,具有响应时间短的特点,但这种做法使得电极板之间的湿度敏感材料减少,进一步牺牲了器件的灵敏度。所以,如何在现有器件梳齿结构设计和尺寸的基础上,提高单位面积内传感器的灵敏度是现有技术中给予解决的问题。

另外,在器件灵敏度和响应时间都得到保证的情况下,器件的结构强度往往会被忽略,中国专利CN 101620197 B中涉及的一种快速响应的CMOS相对湿度传感器,其湿度敏感介质上方和下方均与空气接触,达到了快速响应的效果,且器件灵敏度也不受损失,但是由于敏感区域下方的体硅都被腐蚀掉,敏感区域整体悬空,机械强度难以得到保证,在实际应用中容易破裂。因此,在器件灵敏度和响应时间都得到保证的情况下,器件结构强度的改善是也是同时需要解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种CMOS MEMS电容式湿度传感器及其制备方法,其能够在灵敏度和响应时间都得到保证的情况下,改善了该湿度传感器的结构强度。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州工业园区纳米产业技术研究院有限公司,未经苏州工业园区纳米产业技术研究院有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510091391.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top