[发明专利]一种红外探测器及其制备方法在审
申请号: | 201510010905.1 | 申请日: | 2015-01-09 |
公开(公告)号: | CN104600155A | 公开(公告)日: | 2015-05-06 |
发明(设计)人: | 谢泉;廖杨芳;张宝晖;杨云良;肖清泉;梁枫;张晋敏;陈茜;谢晶;范梦慧 | 申请(专利权)人: | 贵州大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0216 |
代理公司: | 贵阳中新专利商标事务所 52100 | 代理人: | 程新敏 |
地址: | 550025 贵州省贵*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 红外探测器 及其 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种红外探测器及其制备方法,属于半导体技术领域。
背景技术
红外探测器是将入射的红外辐射信号转变成电信号输出的器件,近年来红外探测器技术得到迅速发展,但是大多数红外探测器需要在低温工作才能获得较高性能,如:锗硅、铝镓砷等都要求在低温下使用,由于需要致冷使得红外系统体积大、笨重、价格昂贵和不利于使用,影响了它们的广泛应用,因此致冷是红外探测器获得广泛应用的主要障碍。因此,人们对室温工作的红外探测器展开了大量深入地研究,如今非致冷已经成为红外探测领域的研究的热点之一。目前,在半导体光伏型红外探测器领域使用的主要材料有镓铟砷GaInAs(中国发明专利CN 104183658 A),镓铟砷磷GaInAsP、碲镉汞HgCdTe、铅盐化合物及含锑化合物等半导体材料(中国实用新型专利CN 203883014 U)。但这类半导体元器件含有大量的铅、汞、镉、镓、砷等各种对人体有害的物质,这些元素如果进入土壤随雨水渗到地下就会污染水源,最终将危害人类的生存,也不利于半导体材料的可持续发展。目前,红外探测技术存在的主要缺点是:(1)需要制造冷却系统,才能保证红外探测器正常工作;(2)整个红外探测系统体积和重大;(3)探测系统的功耗高;(4)性价比低,而且使用极为不方便;(5)含有对人体有害物质,不利于半导体材料的可持续发展。
发明内容
本发明的目的是:针对现有技术的缺陷,提供一种红外探测器及其制备方法,该方法所使用的材料资源丰富、对环境负荷小,以克服现有技术的不足。
本发明的技术方案
一种红外探测器的制备方法,该方法采用磁控溅射技术在衬底上生长Mg2Si薄膜,然后在衬底下表面镀一层下电极,在Mg2Si薄膜上表面上镀一层上电极。
前述的一种红外探测器的制备方法中,所述的衬底采用硅衬底或在衬底上表面镀一层硅膜。
前述的一种红外探测器的制备方法中,在Mg2Si薄膜上表面度一层减反射层且上电极伸出减反射层。
前述的一种红外探测器的制备方法中,所述的减反射层为一层SiO2薄膜。
前述的一种红外探测器的制备方法中,所述的下电极由电阻式热蒸发方法在硅衬底下表面蒸镀一层铝膜制成。
前述的一种红外探测器的制备方法中,所述的上电极通过蒸镀Ag膜制成。
前述的一种红外探测器的制备方法中,该方法的具体工艺步骤为:
步骤一、清洗衬底,吹干后备用;
步骤二、衬底采用硅衬底时,在硅衬底上利用磁控溅射方法溅射一层Mg膜;
步骤三、衬底不采用硅衬底时,先在衬底上表面镀一层硅膜,在衬底的硅膜上利用磁控溅射方法溅射一层Mg膜;
步骤四、将衬底上的Mg膜进行退火处理,得到Mg2Si薄膜,作为红外辐射的吸收层;
步骤五、在Mg2Si薄膜上溅射一层减反射层;
步骤六、在衬底下面热蒸发一层铝膜作为下接触电极层;
步骤七、在Mg2Si薄膜上的预留区域热蒸发一层银膜作为上电极层且该上电极伸出减反射层。
一种红外探测器,包括衬底,在衬底上表面设置Mg2Si薄膜,Mg2Si薄膜上表面连接上电极,在衬底下表面设置下电极。
前述的一种红外探测器中,在Mg2Si薄膜上表面镀一层减反射层,上电极穿过减反射层。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的