[实用新型]半导体的封装模具

说明书

技术领域

本实用新型涉及半导体生产制造领域，更具体而言，涉及一种半导体的封装模具。

背景技术

在半导体注塑工艺过程中，灰尘和残渣会掉落在模具表面，使得注塑产品放置倾斜，导致环氧塑封料流到模块的衬底背面，造成产品外观不良，与衬底结合不好，散热效果降低，甚至衬底破裂，为了解决上述问题，大多数的半导体生产制造者会采用气枪清洁模具表面，但且效果不佳，生产效率慢，仍存在大量的废品；也有一些半导体生产制造者，引进自动吸尘设备清洁模具表面，但是该设备成本过高。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。

为此，本实用新型的目的在于，提供一种可有效提高模腔清洁度的半导体的封装模具。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种半导体的封装模具，所述封装模具内成型有模腔，所述模腔的腔底面设置有凹槽，且所述凹槽的槽口围成的面积小于所述半导体的横截面面积。

本实用新型提供的半导体的封装模具，在模腔的底面设置凹槽，封装过程中，灰尘和残渣等异物会掉落在会掉落在模腔内，其中很大一部分异物会掉落在模具的凹槽内，在进行下一次模封时，将焊接了引脚的半导体放置在模腔内，因凹槽的槽口围成的面积小于半导体的横截面面积，此时，半导体与凹槽的边缘接触，中间架空，有效地保证了半导体的散热效果，在注塑过程中，塑封料对半导体施加压力，若残留在凹槽内异物的高度等于或者稍大于凹槽的深度，异物还可以减缓塑封料对半导体的应力，若异物的高度小于凹槽的深度，异物与半导体无接触，若半导体存在局部翘曲，塑封料会从翘曲处的缝隙流入凹槽内，不会残留在半导体表面，从而保证了产品的品质，并最终在半导体表面留下与凹槽的接触压痕。

另外，根据本实用新型上述实施例提供的半导体的封装模具还具有如下附加技术特征：

根据本实用新型的一个实施例，所述凹槽的槽深大于等于4μm且小于等于50μm。

根据本实用新型的一个实施例，所述凹槽的槽深为12μm。

根据本实用新型的一个实施例，所述凹槽的槽底与槽壁之间形成的夹角为钝角。

根据本实用新型的一个实施例，所述凹槽内设置有弹性软垫。

根据本实用新型的一个实施例，所述弹性软垫的厚度小于所述凹槽的槽深。

根据本实用新型的一个实施例，所述弹性软垫可拆卸地安装在所述凹槽的槽底面上。

根据本实用新型的一个实施例，所述弹性软垫通过胶粘贴在所述凹槽的槽底面上。

根据本实用新型的一个实施例，所述弹性软垫为耐高温胶脂垫。

根据本实用新型的一个实施例，所述封装模具包括上模具和下模具，所述上模具与所述下模具相连接形成所述模腔，所述凹槽设置在所述下模具上。

本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述部分中给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

本实用新型的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是根据本实用新型一实施例所述的半导体的封装模具的剖视局部结构示意图；

图2是图1所示的半导体的封装模具掉落有异物时的结构示意图；

图3是图2所示的半导体的封装模具放置有半导体时的结构示意图；

图4是图3所示的半导体的封装模具封装半导体时的结构示意图；

图5是根据本实用新型另一实施例所述的半导体的封装模具的剖视局部结构示意图；

图6是图5所示的半导体的封装模具掉落有异物时的结构示意图；

图7是图6所示的半导体的封装模具放置有半导体时的结构示意图；

图8是图7所示的半导体的封装模具封装半导体时的结构示意图。

其中，图1至图8中附图标记与部件名称之间的对应关系为：

10下模具，11凹槽，20半导体，21引脚，30异物，40弹性软垫，50塑封料。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本实用新型的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进行进一步的详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型，但是，本实用新型还可以采用其他不同于在此描述的方式来实施，因此，本实用新型的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。

下面参照附图1至附图8描述根据本实用新型一实施例提供的半导体的封装模具。