[发明专利]一种用于组合级产品调试的多信号产生装置及方法有效

专利信息
申请号: 201410693960.0 申请日: 2014-11-26
公开(公告)号: CN104460375A 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 何刘 申请(专利权)人: 北京无线电测量研究所
主分类号: G05B19/04 分类号: G05B19/04
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 杨立
地址: 100854 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 组合 产品 调试 信号 产生 装置 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及电子技术领域,尤其涉及一种用于组合级产品调试的多信号产生装置及方法。

背景技术

在组合级产品调试时,需要有外部装置与其配合。外部装置需要完成以下功能:为被调试产品提供同步信号;与被调试产品进行通讯;给测试仪器提供外部触发信号等。现有的辅助调试外部装置为计算机板卡形式(I SA板卡),对外只提供TTL接口电路,对于某些需要差分接口的场合不适合;不支持热插拔,且安装拆卸时需要打开调试计算机机箱,不便于调试。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的不足,提供一种用于组合级产品调试的多信号产生装置及方法。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下:一种用于组合级产品调试的多信号产生装置,包括USB接口电路、信号产生电路、TTL接口电路和差分接口电路,所述USB接口电路与信号产生电路连接,所述信号产生电路分别与TTL接口电路和差分接口电路连接;

所述USB接口电路,其用于与调试计算机连接为装置供电,并对信号产生电路进行初始化;

所述信号产生电路,其用于根据USB接口电路接收的地址信息的地址范围,产生调试所需的同步信号或通讯信号,根据预先设定的被调试产品与接口的连接情况,将同步信号发送给TTL接口电路或差分接口电路,将数据信号发送给TTL接口电路或差分接口电路;

所述TTL接口电路,其用于将接收的同步信号和/或数据信号发送给与其连接的被调试产品和/或测试仪器;

所述差分接口电路,其用于将接收的同步信号和/或数据信号发送给与其连接的被调试产品。

本发明的有益效果是:采用USB接口与调试计算机连接,使本发明所述装置支持热插拔,便于调试,并且本发明设置有TTL接口电路和差分接口电路,可以根据被调试的产品的接口情况,选择与被调试产品的接口,可以通过TTL接口连接,通过差分接口连接或者通过TTL接口电路和差分接口电路均与被调试的产品连接。

在上述技术方案的基础上,本发明还可以做如下改进。

进一步,所述信号产生电路包括配置电路和FPGA电路;

所述配置电路,其用于存储执行程序,供FPGA电路下载,程序中根据组合调试的需要预先分配有信号产生电路与USB接口电路通讯的地址以及产生同步信号的地址;

所述FPGA芯片,其用于从配置电路中下载执行程序并执行,产生调试所需的同步信号或通讯信号,根据预先设定的被调试产品与接口的连接情况,将同步信号发送给TTL接口电路或差分接口电路,将数据信号发送给TTL接口电路或差分接口电路。

采用上述进一步方案的有益效果:本发明根据组合调试的需要预先分配信号产生电路与USB接口电路通讯的地址以及产生同步信号的地址,在进行调试时,根据USB接口接收的地址信息,判断需要产生同步信号或是数据信号。

进一步,所述同步信号包括TTL同步信号和/或差分同步信号。

进一步,所述通讯信号包括TTL通讯信号和/或测试仪器的外触发信号和/或差分通讯信号。

进一步,所述TTL电路采用74HCT245芯片。

进一步,所述差分接口电路采用DS26C31TM芯片和DS26C32ATM芯片,均与FPGA芯片连接。

本发明解决上述技术问题的另一技术方案如下:一种用于组合级产品调试的多信号产生方法,包括如下步骤:

步骤1,通过USB接口电路与调试计算机连接,为装置供电,并对信号产生电路进行初始化;

步骤2,根据USB接口电路接收的地址信息的地址范围,产生调试所需的同步信号或通讯信号;

步骤3,根据预先设定的被调试产品与接口的连接情况,将同步信号发送给TTL接口电路或差分接口电路,将数据信号发送给TTL接口电路或差分接口电路;

步骤4,TTL接口电路,将接收的同步信号和/或数据信号发送给与其连接的被调试产品和/或测试仪器;差分接口电路将接收的同步信号和/或数据信号发送给与其连接的被调试产品。

在上述技术方案的基础上,本发明还可以做如下改进。

进一步,步骤1中信号产生电路初始化具体为,信号产生电路的FPGA芯片从配置芯片下载执行程序,程序中根据组合调试的需要预先分配有信号产生电路与USB接口电路通讯的地址以及产生同步信号的地址。

进一步,所述同步信号包括TTL同步信号和/或差分同步信号。

进一步,所述通讯信号包括TTL通讯信号和/或测试仪器的外触发信号和/或差分通讯信号。

附图说明

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