[发明专利]无封装LED闪灯、其驱动芯片及制作方法在审

专利信息
申请号: 201410588808.6 申请日: 2014-10-28
公开(公告)号: CN105552175A 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: 李如东;谭志辉;宋秀海;冶晓飞 申请(专利权)人: 北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/58
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 李相雨
地址: 100871 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 封装 led 闪灯 驱动 芯片 制作方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及半导体芯片制造工艺技术领域,尤其涉及一种无封装 LED闪灯驱动芯片、无封装LED闪灯驱动芯片的制作方法和无封装LED 闪灯。

背景技术

目前,有一类发光二极管(LightingEmittingDiode,简称LED) 闪灯产品是将几个LED灯和驱动芯片共同封装在透明的环氧树脂内, 此类产品的驱动芯片外没有不透明树脂封装。

此类产品的驱动芯片的制作方法,如图1所示,现有技术的无封 装LED闪灯的驱动芯片的制作方法,包括:P型阱制作;N型金属氧 化物半导体(NegativechannelMetalOxideSemiconductor,NMOS)源 漏制作;P型金属氧化物半导体(positivechannelMetalOxide Semiconductor,PMOS)源漏制作;引线孔制作;金属引线制作;护 层制作。如图2所示,现有技术中图1所示制作方法中驱动芯片的护 层制作的步骤,包括:护层沉积;护层光刻;护层刻蚀。

此类LED闪灯产品在光照的环境下驱动芯片的漏电流会增大,导 致部分驱动芯出现功能异常,由于漏电流增大,表现为LED灯出现关 不断的常亮现象。

发明内容

针对现有技术中的缺陷,本发明提供一种无封装LED闪灯驱动芯 片、无封装LED闪灯驱动芯片的制作方法和无封装LED闪灯,既能 够不影响终端产品的外观及亮度,又能够有效的解决由于光照导致的 驱动芯片漏电流增大的问题。

第一方面,本发明提供一种无封装LED闪灯的驱动芯片的制作方 法,包括:

提供依次形成有P型阱、N型金属氧化物半导体NMOS源漏、P 型金属氧化物半导体PMOS源漏、引线孔,金属引线的衬底;

在所述衬底上形成包括遮光金属层的护层。

可选地,所述在所述衬底上形成包括遮光金属层的护层的步骤, 包括:

在所述衬底上形成护层薄膜;

在所述护层薄膜上形成包括开口区的遮光金属层;

在所述开口区的护层薄膜上涂第一光刻胶并使用护层掩模板对所 述第一光刻胶进行曝光和显影,形成第一光刻胶完全去除区域;

刻蚀掉所述第一光刻胶完全去除区域的护层薄膜。

可选地,所述在所述护层薄膜上形成包括开口区的遮光金属层的 步骤,包括:

在所述护层薄膜上形成遮光金属层薄膜;

在所述遮光金属层薄膜上涂第二光刻胶并使用遮光金属层掩模板 对所述第二光刻胶进行曝光和显影,形成第二光刻胶完全保留区域和 第二光刻胶完全去除区域;

刻蚀掉所述第二光刻胶完全去除区域的金属层薄膜,剥离光刻胶, 形成包括开口区的遮光金属层。

可选地,在所述遮光金属层薄膜上涂第二光刻胶并使用遮光金属 层掩模板对所述第二光刻胶进行曝光和显影,形成第二光刻胶完全保 留区域和第二光刻胶完全去除区域的步骤中,所述遮光金属层掩模板 曝光的图形在压焊点位置,所述遮光金属层与压焊点的间距大于 50um。

可选地,所述刻蚀掉所述第二光刻胶完全去除区域的金属层薄膜 的步骤,包括:

使用等离子干法蚀刻工艺刻蚀掉所述第二光刻胶完全去除区域的 金属层薄膜。

可选地,所述刻蚀掉所述第二光刻胶完全去除区域的金属层薄膜 的步骤,包括:

使用湿法蚀刻工艺刻蚀掉所述第二光刻胶完全去除区域的金属层 薄膜。

可选地,所述遮光金属层的材料为铝。

第二方面,本发明提供一种无封装LED闪灯的驱动芯片,包括: P型阱、NMOS源漏、PMOS源漏、引线孔,金属引线和护层,所述 护层包括遮光金属层。

可选地,所述遮光金属层的材料为铝。

第三方面,本发明提供一种无封装LED闪灯,包括:驱动芯片, 所述驱动芯片为权利要求8或9所述的驱动芯片。

由上述技术方案可知,在本发明的无封装LED闪灯驱动芯片、无 封装LED闪灯驱动芯片的制作方法和无封装LED闪灯中,通过在驱 动芯片制作的过程中,在驱动芯片护层上再增加一层遮光金属层,由 于金属的反光作用,所以在加入遮光金属层之后,既能够不影响终端 产品的外观及亮度,又能够有效的解决由于光照导致的驱动芯片漏电 流增大的问题。

附图说明

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