[发明专利]一种发光二极管的生长方法及发光二极管在审
申请号: | 201410542946.0 | 申请日: | 2014-10-14 |
公开(公告)号: | CN104362237A | 公开(公告)日: | 2015-02-18 |
发明(设计)人: | 姚振;从颖;韩杰;胡加辉;魏世祯 | 申请(专利权)人: | 华灿光电(苏州)有限公司 |
主分类号: | H01L33/32 | 分类号: | H01L33/32;H01L33/12;H01L33/00 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 徐立 |
地址: | 215600 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 发光二极管 生长 方法 | ||
技术领域
本发明涉及半导体技术领域,特别涉及一种发光二极管的生长方法及发光二极管。
背景技术
LED(Light Emitting Diode,发光二极管)是一种能发光的半导体电子元件。作为一种高效、环保、绿色新型固态照明光源,LED具有低电压、低功耗、体积小、重量轻、寿命长、高可靠性等优点,正在被迅速广泛地得到应用,如交通信号灯、汽车内外灯、城市景观照明、手机背光源、户外全彩显示屏等。
现有的LED的生长方法包括:依次在衬底上生长低温缓冲层、高温缓冲层、N型层、有源层、P型层。其中,有源层由InGaN层和GaN层交替生长形成。
在实现本发明的过程中,发明人发现现有技术至少存在以下问题:
InGaN层和GaN层的生长温度是固定不变的,由于生长温度越高,反应越迅速和完全,晶格质量越好,同时生长温度越高,In析出越严重(In不能掺杂到晶格中),析出的In不能有效参与反应,InGaN层被破坏,为了兼顾晶格质量和In的并入效率(In掺入晶格中的多少),对InGaN层的生长温度设置要求很高,增加了工艺难度和风险。而且InGaN与GaN属于异质,InGaN层和GaN层之间会存在很大的应力,导致极化效应和晶格失配,晶格质量较差,降低了电子和空穴在InGaN层中的复合效率,降低了发光二极管的发光效率。
发明内容
为了解决现有技术工艺难度和风险较高、发光二极管的发光效率较低的问题,本发明实施例提供了一种发光二极管的生长方法及发光二极管。所述技术方案如下:
一方面,本发明实施例提供了一种发光二极管的生长方法,所述生长方法包括:
依次在衬底上生长低温缓冲层、高温缓冲层、N型层;
在所述N型层上交替生长高温InGaN阱层和高温GaN垒层,形成高温有源层;
在所述高温有源层上生长若干层低温有源子层,形成低温有源层;
在所述低温有源层上生长P型层;
其中,生长每层所述低温有源子层,包括:
生长低温InGaN阱层,所述低温InGaN阱层的生长温度低于所述高温InGaN阱层的生长温度;
开启N源和In源,形成InN;
关闭In源和开启Ga源,形成GaN,并且之前形成的InN渗入所述GaN中生成低温InGaN垒层,所述低温InGaN垒层的生长温度低于所述高温GaN垒层的生长温度;
开启Al源,在所述低温InGaN垒层上生长AlGaN垒层,所述AlGaN垒层的生长温度低于所述高温GaN垒层的生长温度。
可选地,所述高温InGaN阱层的生长温度为780-820℃,所述高温GaN垒层的生长温度为890-940℃。
可选地,所述高温InGaN阱层的厚度为1-3nm,所述高温GaN垒层的厚度为10-12nm。
可选地,所述高温InGaN阱层的层数为4-10,所述高温GaN垒层的层数为4-10。
可选地,所述低温InGaN阱层的生长温度为760-790℃,所述低温InGaN垒层和所述AlGaN垒层的生长温度为880-930℃。
可选地,所述低温InGaN阱层的厚度为2-3.5nm,所述低温InGaN垒层和所述AlGaN垒层的厚度之和为8-10nm。
可选地,所述低温有源子层的层数为8-14。
另一方面,本发明实施例提供了一种发光二极管,所述发光二极管包括衬底、以及依次层叠在所述衬底上的低温缓冲层、高温缓冲层、N型层、P型层,在所述N型层和所述P型层之间依次生长高温有源层、低温有源层,所述高温有源层由交替生长的高温InGaN阱层和高温GaN垒层形成,所述低温有源层由若干层低温有源子层形成,每层所述低温有源子层包括依次层叠的低温InGaN阱层、低温InGaN垒层、AlGaN垒层,所述低温InGaN阱层的生长温度低于所述高温InGaN阱层的生长温度,所述低温InGaN垒层是由先形成的InN渗入后形成的GaN中生成的,所述低温InGaN垒层的生长温度和所述AlGaN垒层的生长温度均低于所述高温GaN垒层的生长温度。
可选地,所述高温InGaN阱层的生长温度为780-820℃,所述高温GaN垒层的生长温度为890-940℃。
可选地,所述低温InGaN阱层的生长温度为760-790℃,所述低温InGaN垒层和所述AlGaN垒层的生长温度为880-930℃。
本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是:
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