[发明专利]用于处理基底堆叠的保持系统、装置及方法有效

专利信息
申请号: 201380075117.X 申请日: 2013-03-27
公开(公告)号: CN105074898B 公开(公告)日: 2019-11-12
发明(设计)人: E.塔尔纳;P.林德纳 申请(专利权)人: EV集团E·索尔纳有限责任公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;H01L21/687
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 严志军;宣力伟
地址: 奥地利圣*** 国省代码: 奥地利;AT
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摘要:
搜索关键词: 用于 处理 基底 堆叠 保持 系统 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种保持系统(1,20),其用于处理待与第二基底(13)接合的第一基底(4),所述保持系统具有:

-保持表面(1o,20o),其用于保持第一基底(4),以及

-至少一个凹口(2,21),相对于所述保持表面(1o,20o)凹入,用于保持磁性作用的附接机构,以用于相对于与所述第一基底(4)对准的第二基底(13)固定所述第一基底(4),

-其中,另外的磁体被应用在所述第二基底(13)的背对所述第一基底(4)的固持侧(13h)上;

其中,由所述第一基底(4)和所述第二基底(13)构成的基底堆叠(14)在省略所述保持系统(1,20)的情况下能够仅利用所述附接机构移动。

2.根据权利要求1所述的保持系统,其特征在于,所述凹口(2,21)设计为至少一个架,其布置在外周上,具有用于承坐所述附接机构的承坐区段(2o,21o),以及用于安装所述附接机构的朝承坐表面(1o,20o)的中心定向的安装区段(2o,21o)。

3.根据权利要求2所述的保持系统,其特征在于,所述承坐区段(2o,21o)相对于所述保持表面(1o,20o)倾斜小于60°的角度。

4.根据权利要求3所述的保持系统,其特征在于,所述承坐区段(2o,21o)相对于所述保持表面(1o,20o)倾斜小于45°的角度。

5.根据权利要求3所述的保持系统,其特征在于,所述承坐区段(2o,21o)相对于所述保持表面(1o,20o)倾斜小于30°的角度。

6.根据权利要求3所述的保持系统,其特征在于,所述承坐区段(2o,21o)相对于所述保持表面(1o,20o)倾斜小于15°的角度。

7.根据权利要求1所述的保持系统,其特征在于,所述凹口(2,21)均匀地布置分布在所述保持表面(1o,20o)的外周上。

8.用于处理基底堆叠(14)的装置,所述基底堆叠(14)由第一基底(4)和相对于所述第一基底(4)对准的第二基底(13)构成,所述装置具有磁性作用的附接机构,所述附接机构用于在对准的固定位置相对于所述第二基底(13)固定所述第一基底(4),其中,所述装置具有放置系统(6),其用于将所述附接机构放置在所述基底堆叠(14)的背对彼此的侧上,以及其中,所述基底堆叠(14)在省略保持系统的情况下能够仅利用所述附接机构移动。

9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述附接机构具有至少两对磁性元件(5p)。

10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,每一对磁性元件(5p)由磁活性的第一磁体和由所述第一磁体磁性吸引的第二磁体形成。

11.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,所述第二磁体是磁活性的。

12.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,所述第一磁体和/或所述第二磁体设计为球形的形状。

13.根据权利要求10或12所述的装置,其特征在于,所述第一磁体和/或所述第二磁体至少主要地在所述固定位置由所述一对磁性元件(5p)产生的磁力附接至所述基底堆叠(14)。

14.根据权利要求13所述的装置,其特征在于,所述第一磁体和/或所述第二磁体完全地在所述固定位置由所述一对磁性元件(5p)产生的磁力附接至所述基底堆叠(14)。

15.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述装置具有根据权利要求1至7中的一项所述的保持系统。

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