[发明专利]在硅衬底上生长的发光器件在审
| 申请号: | 201380015388.6 | 申请日: | 2013-03-18 |
| 公开(公告)号: | CN104205369A | 公开(公告)日: | 2014-12-10 |
| 发明(设计)人: | R.辛格;J.E.埃普勒 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号: | H01L33/16 | 分类号: | H01L33/16;H01L33/12;H01L33/44;H01L33/32 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 王兴秋;汪扬 |
| 地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 衬底 生长 发光 器件 | ||
1.一种器件,包括:
半导体结构,其包括:
III族氮化物发光层,其布置在n型区与p型区之间;和
含铝层,其中含铝层包括半导体结构的顶部表面;以及
透明材料,其布置在含铝层上,其中透明材料的表面被纹理化。
2.权利要求1的器件,其中含铝层是AlN。
3.权利要求1的器件,其中n型区被布置在含铝层与III族氮化物发光层之间。
4.权利要求1的器件,其中透明材料具有至少2.0的折射率。
5.权利要求1的器件,其中透明材料包括硅的氧化物。
6.权利要求1的器件,其中透明材料包括硅的氮化物。
7.权利要求1的器件,其中透明材料的表面或者被粗糙化、纹理化或者被图案化。
8.权利要求1的器件,其中布置在含铝层与发光区之间的界面是非平面的。
9.权利要求8的器件,其中非平面的界面是在AlGaN层与GaN层之间的界面,所述GaN层是n型区的一部分。
10.权利要求1的器件,还包括多孔半导体层,其被布置在含铝层与III族氮化物发光层之间。
11.一种方法,包括:
在包括硅的衬底上生长半导体结构,所述半导体结构包括:
含铝层,其与衬底直接接触;和
III族氮化物发光层,其被布置在n型区与p型区之间;
移除衬底;
在移除衬底之后,形成与含铝层直接接触的透明材料;以及
纹理化透明材料。
12.权利要求11的方法,其中衬底包括硅层。
13.权利要求11的方法,其中含铝层是AlN。
14.权利要求11的方法,其中透明材料具有至少2.0的折射率。
15.权利要求11的方法,其中透明材料通过化学气相沉积形成。
16.权利要求11的方法,其中透明材料是非III族氮化物材料。
17.权利要求11的方法,还包括:
在生长含铝层之后,在半导体结构上形成非平面表面;
在形成非平面表面之后,生长布置在n型区与p型区之间的III族氮化物发光层。
18.权利要求11的方法,还包括:
在生长含铝层之后,形成多孔GaN层;
在形成多孔GaN层之后,生长布置在n型区与p型区之间的III族氮化物发光层。
19.一种器件,包括:
半导体结构,其包括:
III族氮化物发光层,其布置在n型区与p型区之间;和
含铝层;以及
多孔III族氮化物区,其布置在含铝层与III族氮化物发光层之间。
20.权利要求19的器件,其中多孔III族氮化物区为GaN,并且半导体结构生长在硅衬底上。
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