[发明专利]在硅衬底上生长的发光器件在审

专利信息
申请号: 201380015388.6 申请日: 2013-03-18
公开(公告)号: CN104205369A 公开(公告)日: 2014-12-10
发明(设计)人: R.辛格;J.E.埃普勒 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: H01L33/16 分类号: H01L33/16;H01L33/12;H01L33/44;H01L33/32
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 王兴秋;汪扬
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 衬底 生长 发光 器件
【权利要求书】:

1.一种器件,包括:

半导体结构,其包括:

  III族氮化物发光层,其布置在n型区与p型区之间;和

  含铝层,其中含铝层包括半导体结构的顶部表面;以及

透明材料,其布置在含铝层上,其中透明材料的表面被纹理化。

2.权利要求1的器件,其中含铝层是AlN。

3.权利要求1的器件,其中n型区被布置在含铝层与III族氮化物发光层之间。

4.权利要求1的器件,其中透明材料具有至少2.0的折射率。

5.权利要求1的器件,其中透明材料包括硅的氧化物。

6.权利要求1的器件,其中透明材料包括硅的氮化物。

7.权利要求1的器件,其中透明材料的表面或者被粗糙化、纹理化或者被图案化。

8.权利要求1的器件,其中布置在含铝层与发光区之间的界面是非平面的。

9.权利要求8的器件,其中非平面的界面是在AlGaN层与GaN层之间的界面,所述GaN层是n型区的一部分。

10.权利要求1的器件,还包括多孔半导体层,其被布置在含铝层与III族氮化物发光层之间。

11.一种方法,包括:

在包括硅的衬底上生长半导体结构,所述半导体结构包括:

  含铝层,其与衬底直接接触;和

  III族氮化物发光层,其被布置在n型区与p型区之间;

移除衬底;

在移除衬底之后,形成与含铝层直接接触的透明材料;以及

纹理化透明材料。

12.权利要求11的方法,其中衬底包括硅层。

13.权利要求11的方法,其中含铝层是AlN。

14.权利要求11的方法,其中透明材料具有至少2.0的折射率。

15.权利要求11的方法,其中透明材料通过化学气相沉积形成。

16.权利要求11的方法,其中透明材料是非III族氮化物材料。

17.权利要求11的方法,还包括:

在生长含铝层之后,在半导体结构上形成非平面表面;

在形成非平面表面之后,生长布置在n型区与p型区之间的III族氮化物发光层。

18.权利要求11的方法,还包括:

在生长含铝层之后,形成多孔GaN层;

在形成多孔GaN层之后,生长布置在n型区与p型区之间的III族氮化物发光层。

19.一种器件,包括:

半导体结构,其包括:

  III族氮化物发光层,其布置在n型区与p型区之间;和

  含铝层;以及

  多孔III族氮化物区,其布置在含铝层与III族氮化物发光层之间。

20.权利要求19的器件,其中多孔III族氮化物区为GaN,并且半导体结构生长在硅衬底上。

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