[发明专利]一种电弧检测方法及装置有效
申请号: | 201310178315.0 | 申请日: | 2013-05-13 |
公开(公告)号: | CN104156936B | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 黄虎;潘晖;潘石柱;张兴明;傅利泉;朱江明;吴军;吴坚 | 申请(专利权)人: | 浙江大华技术股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/136 | 分类号: | G06T7/136;G06T7/60 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 310053 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电弧 检测 方法 装置 | ||
1.一种电弧检测方法,其特征在于,包括:
获取对待检测区域采用固定角度拍摄的视频中的当前视频图像;
基于当前使用的背景图像,对所述当前视频图像进行前景检测,得到所述当前视频图像的前景图像;
确定所述前景图像中的各连通区域;
根据所述各连通区域中是否存在面积大于预设面积阈值的连通区域,确定在所述当前视频图像对应时刻在所述待检测区域中是否发生电弧现象;
其中,基于第二预设像素阈值,对所述当前视频图像进行二值化处理,得到二值化视频图像;
将所述二值化视频图像中与当前使用的二值化的背景图像中像素值为最大像素值的像素点位置相同的像素点的像素值调整为最小像素值,得到的调整后的视频图像作为所述当前视频图像的前景图像。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,基于当前使用的背景图像,对所述当前视频图像进行前景检测,得到所述当前视频图像的前景图像,具体包括:
针对所述当前视频图像中的每个像素点,确定该像素点的像素值与所述背景图像中相同位置的像素点的像素值的差值的绝对值,是否大于第一预设像素阈值;
当大于所述第一预设像素阈值时,确定所述当前视频图像的前景图像中相同位置的像素点的像素值为最大像素值;
当不大于所述第一预设像素阈值时,确定所述当前视频图像的前景图像中相同位置的像素点的像素值为最小像素值。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,采用如下方式生成二值化的背景图像:
获取当前使用的灰度的背景图像;
基于所述第二预设像素阈值,对所述灰度的背景图像进行二值化处理,得到二值化的背景图像。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,基于当前使用的背景图像,对所述当前视频图像进行前景检测,得到所述当前视频图像的前景图像,具体为:
基于当前使用的背景图像,对所述当前视频图像的预设前景检测区域进行前景检测,得到所述当前视频图像的前景图像。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,确定所述前景图像中的各连通区域,具体包括:
对所述前景图像进行形态学处理,得到处理后的前景图像;
确定所述处理后的前景图像中的各连通区域。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,采用如下方式生成背景图像:
在预设时刻到达时,根据所述视频中从所述预设时刻起连续的多个视频图像,采用预设背景图像生成方式,生成背景图像;或者
在预设生成周期到达时,根据所述视频中从所述预设生成周期到达时刻起连续的多个视频图像,采用预设背景图像生成方式,生成背景图像;或者
在所述视频中从上一次生成背景图像所根据的最后一个视频图像起间隔预设数量的视频图像之后,根据从所述间隔预设数量的视频图像起连续的多个视频图像,采用预设背景图像生成方式,生成背景图像。
7.一种电弧检测装置,其特征在于,包括:
获取单元,用于获取对待检测区域采用固定角度拍摄的视频中的当前视频图像;
前景检测单元,用于基于当前使用的背景图像,对所述当前视频图像进行前景检测,得到所述当前视频图像的前景图像;
连通区域确定单元,用于确定所述前景图像中的各连通区域;
电弧检测单元,用于根据所述各连通区域中是否存在面积大于预设面积阈值的连通区域,确定在所述当前视频图像对应时刻在所述待检测区域中是否发生电弧现象;
其中,所述前景检测单元,具体用于基于第二预设像素阈值,对所述当前视频图像进行二值化处理,得到二值化视频图像;并将所述二值化视频图像中与当前使用的二值化的背景图像中像素值为最大像素值的像素点位置相同的像素点的像素值调整为最小像素值,得到的调整后的视频图像作为所述当前视频图像的前景图像。
8.如权利要求7所述的装置,其特征在于,所述前景检测单元,具体用于针对所述当前视频图像中的每个像素点,确定该像素点的像素值与所述背景图像中相同位置的像素点的像素值的差值的绝对值,是否大于第一预设像素阈值;并当大于所述第一预设像素阈值时,确定所述当前视频图像的前景图像中相同位置的像素点的像素值为最大像素值;当不大于所述第一预设像素阈值时,确定所述当前视频图像的前景图像中相同位置的像素点的像素值为最小像素值。
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