[发明专利]低温多晶硅晶体管的制作方法无效
申请号: | 201310059776.6 | 申请日: | 2013-02-26 |
公开(公告)号: | CN103137497A | 公开(公告)日: | 2013-06-05 |
发明(设计)人: | 徐源竣 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L21/28 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 低温 多晶 晶体管 制作方法 | ||
技术领域
本发明涉及平面显示领域,尤其涉及一种低温多晶硅晶体管的制作方法。
背景技术
液晶显示装置(LCD,Liquid Crystal Display)具有机身薄、省电、无辐射等众多优点,得到了广泛的应用。现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示器,其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板中放置液晶分子,通过给玻璃基板的电路通电来控制液晶分子改变方向,将背光模组的光线折射出来产生画面。
请参阅图1,所述液晶显示面板一般包括:TFT(薄膜晶体管)基板100、与TFT基板100相对贴合设置的CF基板300及设于TFT基板100与CF基板300之间的液晶500。
请参阅图2,现有的薄膜晶体管主要包括:基板102、形成于基板102上的第一绝缘层104、形成于第一绝缘层104上的有源层(active layer)106、形成于有源层106上的栅极绝缘层108、形成于栅极绝缘层108上的栅极110、形成于栅极110上的第二绝缘层112及形成于第二绝缘层112上的源/漏极114,其中有源层106和栅极绝缘层108是决定薄膜晶体管性能的两个关键层。根据有源层106的材料不同,可以将薄膜晶体管分为单晶硅薄膜晶体管(c-Si TFT)、非晶硅薄膜晶体管(a-Si TFT)、多晶硅薄膜晶体管(p-Si TFT)、有机薄膜晶体管(OTFT)和氧化锌薄膜晶体管(ZnO TFT)。
多晶硅(Polysilicon)是一种约为0.1至数个μm大小、以硅为基底的材料,由许多硅粒子组合而成,其通常经由LPCVD(low pressure chemical vapor deposition,低压化学气相沉积)处理后,再以高于900℃的退火程序SPC(Solid Phase Crystallization,固相晶化法)制得,然而,由于玻璃的最高承受温度只有650℃,所以该多晶硅并不适用于平面显示器的制造上。
低温多晶硅(low temperature poly-silicon,LTPS)的制程温度一般低于600℃,适用于制造平面显示器,且由低温多晶硅制成的晶体管具有较高的迁移率、响应速度较快、易高度集成化、具有P/N型导电模式、自对准结构、省电、抗光干扰能力强、分辨率高、可以制作集成化驱动电路等优点,更加适合于大容量的高频显示,尺寸可以做得更小,有利于提高成品率和降低生产成本,而且P/N型导电模式可以实现LCD、OLED的驱动等优点,得到了广泛的应用。
由于低温多晶硅需要高温活化,其活化温度一般大于500℃,所以现有的低温多晶硅晶体管的栅极一般由耐高温的金属钼(Mo)通过沉积、黄光及蚀刻工艺形成,但,由于金属钼的电阻阻值较高,会导致严重的RC-Delay(延迟效应),进而影响平面显示器的响应速度,同时,导致无法提高平面显示器的解析度与平面显示器的尺寸。
发明内容
本发明的目的在于,提供一种低温多晶硅晶体管的制作方法,其用钼/铝/钼或钛/铝/钛的叠层结构的栅极代替现有的全钼结构的栅极,有效降低栅极阻值,进而提高晶体管的响应速率,利于平面显示器的解析度的提高与平面显示器的尺寸的扩大。
为实现上述目的,本发明提供一种低温多晶硅晶体管的制作方法,其包括以下步骤:
步骤1、在基板上形成低温多晶硅层,并图案化该低温多晶硅层;
步骤2、在低温多晶硅层上形成第一绝缘层;
步骤3、在第一绝缘层上依次形成第一、第二与第三金属层,并通过光罩制程形成栅极;
步骤4、活化该低温多晶硅层,其活化温度介于20℃-370℃之间。
所述所述第二金属层为铝层,第一与第三金属层为钼层或钛层。
所述步骤4中,该低温多晶硅层的活化时间为1-2小时。
所述步骤4中,在室温下,通过准分子激光晶化工艺对低温多晶硅层进行活化。
所述基板为玻璃基板或塑胶基板。
所述步骤1中,先在基板上依次形成第二与第三绝缘层,再在第三绝缘层上形成低温多晶硅层。
所述第二绝缘层为氮化硅层,所述第三绝缘层为氧化硅层。
所述栅极上还依次形成有第四与第五绝缘层,该第五绝缘层上还形成有源/漏极。
所述第四绝缘层为氧化硅层,所述第五绝缘层为氮化硅层。
所述步骤1中,低温多晶硅层图案化后,还对其进行掺杂工艺。
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