[实用新型]半导体激光器光束特性测试装置有效
| 申请号： | 201220516599.0 | 申请日： | 2012-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN202853880U | 公开（公告）日： | 2013-04-03 |
| 发明（设计）人： | 张普;刘兴胜;吴迪;宗恒军 | 申请（专利权）人： | 西安炬光科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 陈广民 |
| 地址： | 710119 陕西省西安市高*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 半导体激光器 光束 特性 测试 装置 | ||
【权利要求书】：
1.半导体激光器光束特性测试装置，包括半圆形光束接收装置和旋转驱动机构；半导体激光器的输出端位于该半圆形光束接收装置的圆心，半圆形光束接收装置面向半导体激光器安装有多个光接收器，各个光接收器分别接有微型探测器；以半导体激光器的输出光束的光轴为旋转轴，半圆形光束接收装置或半导体激光器由所述旋转驱动机构驱动旋转。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述多个光接收器均匀分布，各个光接收器与半导体激光器的输出端之间的距离相等。
3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述光接收器为光纤或光波导；微型探测器采用光电二极管或光电倍增管。
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