[发明专利]一种TFT阵列基板及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201210560105.3 申请日: 2012-12-20
公开(公告)号: CN103887234A 公开(公告)日: 2014-06-25
发明(设计)人: 郭建 申请(专利权)人: 北京京东方光电科技有限公司
主分类号: H01L21/77 分类号: H01L21/77;H01L27/12
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 张颖玲;王黎延
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 tft 阵列 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种薄膜晶体管TFT阵列基板的制造方法,其特征在于,该方法包括:

在衬底基板上形成TFT、栅线、数据线以及像素电极,其中,

在所述TFT阵列基板上除TFT区域以外的区域上,除所述栅线、数据线以及像素电极以外的结构均采用有机树脂形成。

2.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,所述在衬底基板上形成TFT的步骤中,包括对所述衬底基板上所述TFT以外的区域上的栅绝缘层进行刻蚀的步骤;以及在所述栅绝缘层被刻蚀掉的区域上形成有机树脂层的步骤。

3.根据权利要求2所述的制造方法,其特征在于,所述在衬底基板上形成TFT之后以及在形成所述像素电极之前,所述方法还包括:形成钝化层;其中,

所述在所述栅绝缘层被刻蚀掉的区域上形成有机树脂层,为:

采用有机树脂形成所述钝化层,所述钝化层覆盖所述TFT区域以及所述TFT区域以外的区域;或者,

在具有所述TFT的衬底基板上形成所述钝化层,对所述TFT以外的区域上的被刻蚀掉的栅绝缘层上的钝化层进行刻蚀,在所述钝化层被刻蚀掉的区域上形成所述有机树脂层,所述钝化层包括所述有机树脂层。

4.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,所述有机树脂形成的层具有平坦化的上表面。

5.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,所述在衬底基板上形成TFT,包括:

在衬底基板上形成栅电极;

在具有所述栅电极的衬底基板上形成所述栅绝缘层;

在所述栅绝缘层上形成有源层以及源信号电极、漏信号电极;或者,

在衬底基板上形成源信号电极、漏信号电极和有源层;

在具有所述源信号电极、漏信号电极和所述有源层的衬底基板上形成所述栅绝缘层;

在所述栅绝缘层上形成所述栅电极。

6.根据权利要求5所述的制造方法,其特征在于,所述在所述栅绝缘层上形成有源层以及源信号电极、漏信号电极,为:在一次掩膜版构图工艺中,通过半色调工艺形成所述有源层以及所述源信号电极、漏信号电极。

7.根据权利要求3所述的制造方法,其特征在于,所述采用有机树脂形成所述钝化层,所述钝化层覆盖所述TFT区域以及所述TFT区域以外的区域,所述钝化层包括所述有机树脂层中的所述钝化层、以及所述像素电极是在一次掩膜版构图工艺中,通过半色调工艺和分层剥离工艺形成的。

8.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,所述衬底基板的折射率与所述有机树脂的折射率相同。

9.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,所述有机树脂包括主链上含有Si-C、或含有Si-O结构的非感光型有机树脂材料中一种或两种的组合。

10.一种薄膜晶体管TFT阵列基板,包括:衬底基板、形成于所述衬底基板上的TFT、栅线、数据线以及像素电极,其中,

所述TFT阵列基板上除TFT区域以外的区域上,除所述栅线、数据线以及像素电极以外的结构的材料均为有机树脂。

11.根据权利要求10所述的薄膜晶体管TFT阵列基板,其特征在于,所述TFT阵列基板还包括:栅绝缘层;其中,所述栅绝缘层包括:形成于所述TFT区域上的栅绝缘层。

12.根据权利要求10所述的薄膜晶体管TFT阵列基板,其特征在于,所述TFT阵列基板还包括:位于所述TFT与所述像素电极之间的钝化层。

13.根据权利要求10所述的薄膜晶体管TFT阵列基板,其特征在于,所述有机树脂形成的层具有平坦化的上表面。

14.根据权利要求10所述的薄膜晶体管TFT阵列基板,其特征在于,所述衬底基板的折射率与所述有机树脂的折射率相同。

15.根据权利要求10所述的薄膜晶体管TFT阵列基板,其特征在于,所述有机树脂包括主链上含有Si-C、或含有Si-O结构的非感光型有机树脂材料中一种或两种的组合。

16.根据权利要求10所述的薄膜晶体管TFT阵列基板,其特征在于,所述TFT包括:栅电极、形成于所述栅电极上的栅绝缘层、以及形成于所述栅绝缘层上的有源层、源信号电极和漏信号电极;或者,

源信号电极、漏信号电极和有源层,以及形成于所述源信号电极、漏信号电极和所述有源层上的栅绝缘层,形成于所述栅绝缘层上的栅电极。

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