[发明专利]单晶硅太阳能电池及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201210529346.1 申请日: 2012-12-06
公开(公告)号: CN103107233A 公开(公告)日: 2013-05-15
发明(设计)人: 杨瑞鹏;张开军;付建明;温显 申请(专利权)人: 杭州赛昂电力有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/078;H01L31/036
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆苏华
地址: 311215 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 单晶硅 太阳能电池 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种单晶硅太阳能电池的制作方法,其特征在于,包括:

提供基片,所述基片为第一类型单晶硅片;

在所述基片上表面形成SiGe虚拟衬底;

在所述SiGe虚拟衬底表面形成第二类型掺杂层,所述第二类型掺杂层受到双轴应力;

在所述第二类型掺杂层表面形成抗反射层;

在所述抗反射层表面形成第一电极,在所述基片下表面形成第二电极。

2.根据权利要求1所述的单晶硅太阳能电池的制作方法,其特征在于,形成所述SiGe虚拟衬底的方法包括:首先在基片表面生长一层Ge含量随厚度逐渐增加的Si1-xGex缓冲层,再在所述Si1-xGex缓冲层表面生长一层Ge含量稳定的弛豫Si1-xGex层,所述Si1-xGex缓冲层和弛豫Si1-xGex层构成SiGe虚拟衬底。

3.根据权利要求1所述的单晶硅太阳能电池的制作方法,其特征在于,所述SiGe虚拟衬底的形成工艺包括分子束外延、超高真空化学气相沉积或减压化学气相沉积。

4.根据权利要求1所述的单晶硅太阳能电池的制作方法,其特征在于,还包括,在所述基片的上表面形成SiGe虚拟衬底之后,在所述SiGe虚拟衬底表面形成本征层,再在所述本征层表面形成所述第二类型掺杂层。

5.根据权利要求4所述的单晶硅太阳能电池的制作方法,其特征在于,所述本征层厚度范围为

6.根据权利要求1所述的单晶硅太阳能电池的制作方法,其特征在于,所述基片为N型单晶硅片,则第二类型掺杂层为P型层,或者所述基片为P型单晶硅片,则第二类型掺杂层为N型层。

7.根据权利要求1所述的单晶硅太阳能电池的制作方法,其特征在于,所述第二类型掺杂层的掺杂离子包括磷、砷或锑中的一种或几种。

8.根据权利要求1所述的单晶硅太阳能电池的制作方法,其特征在于,所述第二类型掺杂层的掺杂离子包括硼、镓或铟中的一种或几种。

9.根据权利要求1所述的单晶硅太阳能电池的制作方法,其特征在于,所述第二类型掺杂层中掺杂离子的浓度范围为1E10/cm3~1E20/cm3

10.根据权利要求1所述的单晶硅太阳能电池的制作方法,其特征在于,所述第二类型掺杂层的厚度范围为

11.一种单晶硅太阳能电池,其特征在于,包括:

基片,所述基片为第一类型单晶片;

位于所述基片的上表面的SiGe虚拟衬底;

位于所述SiGe虚拟衬底表面的第二类型掺杂层;

位于所述第二类型掺杂层表面的抗反射层;

位于所述抗反射层表面的第一电极;

位于所述基片下表面的第二电极。

12.根据权利要求11所述的单晶硅太阳能电池,其特征在于,所述基片为N型单晶硅片,则所述第二类型掺杂层为P型层;或者所述基片为P型单晶硅片,则所述第二类型掺杂层为N型层。

13.根据权利要求11所述的单晶硅太阳能电池,其特征在于,所述SiGe虚拟衬底包括基片表面的Ge含量随厚度逐渐增加的Si1-xGex缓冲层和位于Si1-xGex缓冲层表面的Ge含量稳定的弛豫Si1-xGex层。

14.根据权利要求11所述的单晶硅太阳能电池,其特征在于,还包括位于SiGe虚拟衬底和第二类型掺杂层之间的本征层。

15.根据权利要求11所述的单晶硅太阳能电池,其特征在于,所述本征层厚度范围为

16.根据权利要求11所述的单晶硅太阳能电池,其特征在于,所述第二类型掺杂层的掺杂离子包括磷、砷或锑中的一种或几种。

17.根据权利要求11所述的单晶硅太阳能电池,其特征在于,所述第二类型掺杂层的掺杂离子包括硼、镓或铟中的一种或几种。

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