[发明专利]一种LED性能测试箱、标定方法及性能测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及LED测试领域，具体涉及一种LED性能测试箱、标定方法及性能测试方法。

背景技术

目前通行的LED可靠性试验方法是：在同型号、同批次的LED产品中，抽取一定数量的样品进行试验，在试验前以及试验过程中测量其性能参数，根据相应的寿命算法推算出该型号、该批次的LED寿命。由于LED的理论寿命长达数万小时，因此需要采用加强应力的强化试验方法来加速整个试验过程。

为了提高效率及优化试验结果，通行做法是同时对多个LED样品进行可靠性试验。现有LED可靠性试验系统中通常采样一个托盘，在该托盘上固定多个LED样品，再将整个托盘放置在强化试验箱内，在试验过程中当需要测量LED样品的性能参数时，就将托盘上的LED样品依次拆下，逐个放置于积分球内进行测量，测量完毕后再将LED样品重新安装到托盘上，放回强化试验箱内继续后续试验。其存在的问题是：

1、在整个试验过程中，需要反复安装、拆卸LED样品，增加了大量的人力和时间成本；

2、并且在安装、拆卸过程中存在造成试验样品性能改变的不稳定因素而影响最终测试结果。

发明内容

为了解决现有技术问题，本发明提供了一种结构简单并且性能可靠的LED测试箱、标定方法及性能测试方法。

一种LED性能测试箱，包括箱体、电机和取光装置，还包括传动机构和光纤，所述箱体上设有开口，所述传动机构和光纤穿过所述开口，所述取光装置设置在所述箱体内部，所述电机设置在所述箱体外部，所述传动机构一端与所述电机的轴连接，另一端与所述取光装置连接，所述电机通过所述传动机构带动取光装置在箱体内运动，所述光纤的第一端与所述取光装置连接、且第二端在所述箱体外。

在更优的方案中，还包括连接杆，所述开口是通孔，所述传动机构是转轴，所述转轴一端与电机的轴连接，另一端与所述连接杆的第一端固定，所述连接杆的第二端固定所述取光装置，所述电机通过所述转轴带动所述取光装置在设定圆周上运动。

在更优的方案中，所述转轴具有轴向的转轴通孔，所述光纤穿过所述转轴通孔。

在更优的方案中，所述开口处设有隔离箱体内与箱体外的密封件。

在更优的方案中，还包括用于反馈所述电机转动角度的旋转编码器和用于控制所述电机旋转的控制器，所述旋转编码器的输出信号端与所述控制器电连接。

在更优的方案中，还包括测光仪，所述光纤的第二端与所述测光仪连接。

在更优的方案中，还包括LED固定盘，所述LED固定盘具有多个分布在圆周上的LED固定位，所述圆周的圆心在所述转轴所处的直线上，以使所述取光装置转动时对准各个LED固定位上的LED。

在更优的方案中，所述取光装置可以靠近或远离所述LED固定盘。

本发明还提供了一种LED标定方法，采用所述的LED性能测试箱，包括如下步骤：

1）电机驱动取光装置在设定圆周上运动；

2）当取光装置对准某个LED时，记录旋转编码器的输出信号，建立该输出信号与LED的位置的对应关系。

在更优的方案中，

在步骤1）中，还包括测光仪检测从取光装置传来的LED发出的光强；

在步骤2）中，通过如下步骤判断取光装置是否对准某个LED：测光仪检测到的光强是否出现峰值；输出信号为在光强峰值时刻的旋转编码器的输出信号。

本发明还提供了一种LED性能测试方法，其特征是：利用所述的LED标定方法，包括如下步骤：

控制器接收带有LED设定位置信息的控制信号，并使电机带动取光装置旋转到对应的位置；

控制器接收旋转编码器的输出信号，若该输出信号对应的LED实际位置与LED设定位置不一致，则控制电机朝LED设定位置转动。

本发明的有益效果是：采用较少的取光装置即可以对多个LED样品的光进行采集，使得整个LED性能测试箱的结构较为简单，同时，当需要更换LED固定位之间的间隔不同的LED固定盘时，只需要调整取光装置运动而对准相应的LED样品，而不需要其他过多的操作，因而操作较为简单，对多种LED固定盘适用性好，可以避免电机在内腔的极端的测试环境下出现故障、降低工作寿命；尤其当电机通过转轴及连接杆驱动取光装置旋转的情况下，还可以提高整个LED性能测试箱的密封性能；同时可以对多个LED样品性能参数分时在线检测，检测过程中无需反复安装、拆卸LED试验样品，并且不中断施加于LED试验样品的全部应力条件，从而避免因反复安装、拆卸LED试验样品以及应力条件发生改变而引入的测试误差。