[发明专利]测试片外驱动器的阻抗的电路与方法

权利要求书

1.一种测试电路，包含：

多个片外驱动器，每一片外驱动器包含：

一上拉驱动器，耦接到一电源；

一下拉驱动器，耦接于所述上拉驱动器与一接地端之间；以及

一硅通孔，耦接于所述上拉驱动器与所述下拉驱动器之间；以及

多个输入缓冲器，所述多个输入缓冲器中的每一输入缓冲器包含一正输入与一负输入，其中每一输入缓冲器的所述正输入通过每一个别的片外

驱动器的所述硅通孔而分别耦接到所述多个片外驱动器的其中之一；

所述测试电路的特征在于还包含：

多个前驱动器，所述多个前驱动器中的每一前驱动器分别耦接到所述多个片外驱动器的其中之一；

一参考电流测试垫，耦接到所述多个前驱动器；

一参考电压测试垫，耦接到每一输入缓冲器的所述负输入；以及

一扫描输出测试垫，耦接到所述多个输入缓冲器。

2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，还包含：

多个传输门，其中每一个别的传输门耦接到所述多个前驱动器中的至少一前驱动器。

3.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于，还包含：

一参考电流上拉驱动器，耦接到所述参考电流测试垫以及所述多个传输门。

4.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于，还包含：

一参考电流下拉驱动器，耦接到所述参考电流测试垫以及所述多个传输门。

5.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，还包含：

一扫描链，耦接于所述多个输入缓冲器与所述扫描输出测试垫之间，并且所述扫描链还耦接到一时钟输入。

6.如权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述扫描链是被设定来将一输出传送到所述扫描输出测试垫。

7.一种用来验证多个片外驱动器的一阻抗的方法，包含：

驱动一电流到所述多个片外驱动器，其中每一片外驱动器包含：

一上拉驱动器，耦接到一电源；

一下拉驱动器，耦接于所述上拉驱动器与一接地端之间；以及

一硅通孔，耦接于所述上拉驱动器与所述下拉驱动器之间；

所述的方法的特征在于还包含：

开启所述多个片外驱动器，其中每一个别的片外驱动器是耦接到所述多个前驱动器中的至少一前驱动器，以及开启所述多个片外驱动器会在每一硅通孔产生一电压降；

在多个输入缓冲器处接收一参考电压，其中所述多个输入缓冲器中的每一输入缓冲器包含多个输入，并且每一输入缓冲器是被设定来比较所述多个输入以及输出一比较结果；

在每一输入缓冲器中，将所述参考电压与所述多个片外驱动器的其中之一的所述硅通孔的电压做比较；以及

使用每一输入缓冲器的所述比较结果来验证每一片外驱动器的所述组抗，以判断每一片外驱动器的所述阻抗是否是落在一所要的范围内。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，接收所述参考电压的步骤包含：自一参考电压测试垫接收所述参考电压。

9.如权利要求7所述的方法，其特征在于，驱动所述电流到所述多个片外驱动器的步骤还包含：

镜射所述电流来驱动一镜射电流到所述多个片外驱动器。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，驱动所述电流到所述多个片外驱动器的步骤还包含：

驱动所述电流通过一上拉驱动器以及一参考电流测试垫；以及

驱动所述镜射电流的步骤包含：

驱动所述镜射电流到每一片外驱动器的所述上拉驱动器。

11.如权利要求9所述的方法，其特征在于，驱动所述电流到所述多个片外驱动器的步骤包含：

驱动所述电流通过一下拉驱动器以及一参考电流测试垫；以及

驱动所述镜射电流的步骤包含：

驱动所述镜射电流到每一片外驱动器的所述下拉驱动器。

12.如权利要求7所述的方法，其特征在于，验证每一片外驱动器的所述组抗的步骤还包含：

传送多个比较结果到一扫描链；

在所述扫描链处接收一时钟信号，其中所述扫描链是被设定来依序地储存所述多个比较结果；以及

将依序储存的所述多个比较结果传送到一输出。

13.如权利要求7所述的方法，其特征在于，还包含：

使用每一输入缓冲器的所述比较结果来验证每一片外驱动器的一最小阻抗与一最大阻抗。