[发明专利]一种薄膜晶体管及其制备方法无效
申请号: | 201210202201.0 | 申请日: | 2012-06-15 |
公开(公告)号: | CN103515445A | 公开(公告)日: | 2014-01-15 |
发明(设计)人: | 韩德栋;蔡剑;刘力锋;王薇;王亮亮;耿友峰;王漪;张盛东;刘晓彦;康晋锋 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L21/336 |
代理公司: | 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 | 代理人: | 张肖琪 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 薄膜晶体管 及其 制备 方法 | ||
技术领域
本发明属于平板显示领域,具体涉及一种在玻璃衬底或者塑料衬底上的薄膜晶体管及其制备方法。
背景技术
近年来,平板显示技术发展迅速,传统的平板显示技术在不断的更新换代。其中,薄膜晶体管的工艺技术是十分关键的技术,传统工艺使用非晶硅薄膜晶体管技术,后来,又研究开发多晶硅技术。但非晶硅的迁移率非常低,已经不适合新型显示技术的需求,多晶硅技术又由于制备温度高、工艺复杂、大面积均匀性差等因素很难实际应用,显示技术的发展遇到了瓶颈。近来又发展了一种基于氧化锌基的新型薄膜晶体管技术。
氧化锌半导体薄膜材料之所以受到广泛关注是因为它具有很多优点:
(1)易于制备:很多制备方法都可以获得特性良好的氧化锌半导体薄膜材料,比如我们常用的磁控溅射法、分子束外延法MBE、溶胶-凝胶法Sol-Gel、金属有机化合物化学气相沉淀法MOCVD、真空蒸镀法、原子层淀积法ALD等等工艺制备法都能用来研究氧化锌半导体薄膜材料;
(2)制备温度低:氧化锌半导体薄膜材料在很低的温度下就可以制备得到,这有利于应用在玻璃甚至塑料衬底上制备薄膜晶体管的低温工艺要求,非常适合使用在平板显示和柔性显示中;
(3)透明度高:氧化锌是宽禁带半导体材料,在可见光范围内透过率可以达到80%以上,用于平板显示中可以增大光透过率,增大开口率;
(4)电学性能好:氧化锌半导体薄膜材料具有良好的电学特性,电子迁移率比传统的非晶硅半导体薄膜材料高得多,并且稳定性能好;
(5)无毒、环保材料:氧化锌半导体薄膜材料没有毒性,是无毒环保材料,目前半导体行业使用的一些材料是有毒材料,会对环境造成污染,使用无毒环保材料有利于保护环境;
(6)材料价格低:锌在地球中的含量非常丰富,不会像铟一样是稀有金属,因此价格低廉,这对半导体这种高成本的行业来说,无疑是非常吸引人的优点。
目前,关于氧化锌基半导体薄膜材料的研究有很多,比如氧化锌镓ZnO+Ga2O3,氧化锌铟ZnO+In2O3,氧化锌镉ZnO+Gd2O3,氧化锌镁ZnO+MgO,氧化锌铟镓(Indium Gallium Zinc Oxide)IGZO等等。其中,IGZO是目前最被看好的透明半导体材料,然而由于材料中的铟In是稀有元素,地球中含量稀少而且有毒,制备本高而且不环保,因此很难在大规模生中应用。氧化锌铝ZnO+Al2O3还较少有人研究,而且氧化锌铝通常被当成透明的导电材料研究。
发明内容
针对现有技术中存在的问题,提出本发明。
本发明的一个目的在于提供一种薄膜晶体管。
本发明的薄膜晶体管包括:衬底、栅电极、栅介质层、沟道层、源电极和漏电极,其中,在衬底上形成栅电极,在栅电极上形成栅介质层,在栅介质层上形成沟道层,以及在沟道层的两端分别形成源电极和漏电极,沟道层的材料采用掺铝的氧化锌半导体材料,其中铝的含量为1%~10%(质量)。
衬底的材料为透明的玻璃或者柔性的塑料。
栅电极的材料为氧化铟锡ITO或氧化锌铝AZO等的透明的导电材料。
栅介质层的材料采用二氧化硅或者氮化硅等的绝缘材料。
源电极和漏电极为氧化铟锡ITO或氧化锌铝AZO等的透明的导电材料。
本发明的另一个目的在于提供一种薄膜晶体管的制备方法。
本发明的薄膜晶体管的制备方法包括以下步骤:
1)在玻璃或者塑料的衬底上生长一层透明的导电薄膜,光刻刻蚀形成栅电极;
2)紧接着生长一层绝缘的栅介质材料,光刻刻蚀形成栅介质层;
3)在栅介质层上生长一层掺铝的氧化锌半导体材料,并通入适量的氧气,光刻刻蚀形成沟道层;
4)生长一层导电薄膜,光刻刻蚀形成源电极和漏电极;
5)生长一层钝化介质层,光刻和刻蚀形成栅电极、源电极和漏电极的引出孔;
6)生长一层金属薄膜,光刻和刻蚀形成金属电极和互连。
其中,在步骤1)中,形成栅电极所生长的导电薄膜采用氧化铟锡ITO或氧化锌铝AZO等的透明的导电材料。
在步骤2)中,形成栅介质层所生长的栅介质材料采用二氧化硅或者氮化硅等的绝缘材料。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京大学,未经北京大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210202201.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种干洗店管理方法
- 下一篇:电网低频减载实控容量数据监测方法及装置
- 同类专利
- 专利分类