[发明专利]一种实现数据加权平均算法的系统无效
申请号: | 201210126111.8 | 申请日: | 2012-04-26 |
公开(公告)号: | CN102638264A | 公开(公告)日: | 2012-08-15 |
发明(设计)人: | 范军;黑勇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H03M1/12 | 分类号: | H03M1/12 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 实现 数据 加权 平均 算法 系统 | ||
技术领域
本发明涉及CMOS数字电路设计技术领域,特别涉及一种实现数据加权平均算法的系统。
背景技术
模数转换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)是现代通信系统中极其重要的模块,同时也是限制整个通信系统数据处理能力的瓶颈所在。传统的Nyquist模数转换器,其元器件的匹配程度决定了ADC所能达到的精度。随着集成电路的特征尺寸不断减小,MOS晶体管的二阶效应愈加显著,设计高性能模拟电路所遇到的困难和挑战越来越大。当前的工艺水平可以达到0.1%(10bit)的器件匹配精度,然而对于精度为16bit以上的ADC来说,其匹配精度至少为0.0015%,采用普通MOS工艺无法实现。
Sigma-Delta ADC采用过采样(Over-Sampling)和噪声整形(Noise-Shaping)技术,有效衰减输出信号的带内量化噪声(quantized noise),提高了信号带内信噪比,使得利用粗转换器实现高精度的模数转换成为可能。与传统的Nyquist转换器相比,Sigma-DeltaA/D转换器将提高精度的压力尽量转移到数字环节,充分利用了数字电路规模越来越大,速度越来越高而成本日益下降的发展趋势,在模拟电路部分降低了对性能指标和元器件匹配精度的要求,提高了电路设计的可行性。
Sigma-Delta ADC由Sigma-Delta调制器和数字滤波器构成,后者为全数字电路实现,可靠性较高;而调制器部分大多为模拟电路,其电路的性能决定了整个ADC的性能。评价ADC动态性能的主要指标为信噪比(Signal-to-Noise Ratio,SNR),Sigma-Delta调制器的理想峰值信噪比(Peak SNR,PSNR)如下式所示
式中OSR为过采样比(采样频率与信号Nyquist率的比值),n为调制器的阶数,N为量化器的位数。从上述公式可以看到,Sigma-Delta调制器的信噪比与OSR、n和N有关。提高调制器的信噪比,需要提高OSR、n或者N。提高过采样比OSR,意味着在信号带宽的一定的条件下提高采样频率,当信号带宽达到MHz数量级时,一味的提高时钟的采样频率,一方面电路功耗会急剧的增加,另一方面由于工艺条件限制而无法实现;提高调制器的阶数n,由于Sigma-Delta调制器是一个非线性的负反馈闭环系统,调制器阶数大于2会造成系统不稳定,使量化器过载进而使得调制器的性能急速下降。较为合适的方式是通过提高量化器的位数N来提高调制器的性能,而且提高N还会使得高阶调制器的稳定性增强,量化器的稳定输入范围增大,而对调制器不会造成影响。然而采用多位量化器,在反馈回路中就会用到多位DAC,而DAC的精度对调制器的影响很大,以一阶调制器多位量化器为例,X(z)输入信号,EQ(z)为多位量化器的量化噪声,ED(z)为反馈DAC的非线性误差引入的噪声,下式为传输函数
Y(z)=z-1X(z)+(1-z-1)EQ(z)-z-1ED(z)
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