[发明专利]信号取样平均仪和信号取样平均方法有效
| 申请号： | 201310535320.2 | 申请日： | 2013-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN103630148A | 公开（公告）日： | 2014-03-12 |
| 发明（设计）人： | 陆俊;沈保根;邵晓萍 | 申请（专利权）人： | 中国科学院物理研究所 |
| 主分类号： | G01D1/02 | 分类号： | G01D1/02 |
| 代理公司： | 北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391 | 代理人： | 范晓斌;薛峰 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 发明提供了一种信号取样平均仪和信号取样平均方法。其中，信号取样平均方法包括以下步骤：获取多路取样信号；分别计算各路取样信号的能量信噪比；将能量信噪比作为权重对多路取样信号进行加权平均计算，得到取样平均信号。本发明的技术方案应用于信噪比不固定的交直流或脉冲信号进行平均降噪或对信噪比不一致的多路交直流或脉冲信号进行融合降噪的环境下，可以抑制突变噪声或稳定性干扰对累加平均结果的影响，实现对信噪比随时间变化的信号或信噪比不一致的多通道信号进行智能取样平均来达到降噪的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 信号 取样 平均 方法 | ||
【主权项】：
一种信号取样平均方法，包括：获取多路取样信号；分别计算各路所述取样信号的能量信噪比；将所述能量信噪比作为权重对所述多路取样信号进行加权平均计算，得到取样平均信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院物理研究所，未经中国科学院物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310535320.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种可识别纸张的激光打印机
- 下一篇：包装箱
